一种基于RecTransformer的表面缺陷检测模型的构建方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202211294093.4

申请日：

2022-10-21

公开(公告)号：

CN115578358B

公开(公告)日：

2025-09-19

发明(设计)人：

杨华朱钦淼尹周平常靖昀陈建魁

申请人：

华中科技大学

申请人地址：

430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/764 G06V10/82 G06V10/80 G06V10/42 G06N3/0455 G06N3/08

代理机构：

华中科技大学专利中心 42201

代理人：

胡佳蕾

法律状态：

授权

国省代码：

湖北省武汉市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-19	授权	授权

共 50 条

[1]

一种基于RecTransformer的表面缺陷检测模型的构建方法 [P].

杨华 ;

朱钦淼 ;

尹周平 ;

常靖昀 ;

陈建魁 .

中国专利 :CN115578358A ,2023-01-06

[2]

一种表面缺陷检测模型的构建方法及其应用 [P].

李斌 ;

李威风 ;

唐立新 ;

牛通之 ;

张泽丰 ;

邱园红 .

中国专利 :CN114332047B ,2024-09-06

[3]

一种表面缺陷检测模型的构建方法及其应用 [P].

李斌 ;

李威风 ;

唐立新 ;

牛通之 ;

张泽丰 ;

邱园红 .

中国专利 :CN114332047A ,2022-04-12

[4]

一种基于LGP-DETR目标检测模型的导光板表面缺陷检测方法 [P].

刘双宁 ;

万成林 ;

彭硕 ;

冯文杰 ;

樊德超 ;

李俊峰 .

中国专利 :CN119648653A ,2025-03-18

[5]

一种纹理表面缺陷检测模型的构建方法及其应用 [P].

杨华 ;

尹周平 ;

胡家乐 ;

何大伟 .

中国专利 :CN114972216B ,2024-09-06

[6]

基于终身学习的多类别纹理表面缺陷检测模型的构建方法 [P].

尹周平 ;

杨华 ;

何大伟 ;

陈建魁 ;

朱钦淼 .

中国专利 :CN115564749B ,2025-09-23

[7]

基于终身学习的多类别纹理表面缺陷检测模型的构建方法 [P].

尹周平 ;

杨华 ;

何大伟 ;

陈建魁 ;

朱钦淼 .

中国专利 :CN115564749A ,2023-01-03

[8]

基于多类别分解编辑的纹理表面缺陷检测模型的构建方法 [P].

尹周平 ;

杨华 ;

李俊逸 ;

侯岳 .

中国专利 :CN115564724A ,2023-01-03

[9]

基于多类别分解编辑的纹理表面缺陷检测模型的构建方法 [P].

尹周平 ;

杨华 ;

李俊逸 ;

侯岳 .

中国专利 :CN115564724B ,2025-09-26

[10]

一种基于DDAD模型的电路表面缺陷检测方法 [P].

王岩 ;

肖星雨 ;

朱垚 ;

梁俊曦 ;

武静 ;

郑伟东 .

中国专利 :CN119313619B ,2025-10-14

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