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基于终身学习的多类别纹理表面缺陷检测模型的构建方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202211294135.4
申请日：
2022-10-21
公开(公告)号：
CN115564749B
公开(公告)日：
2025-09-23
发明(设计)人：
尹周平
杨华
何大伟
陈建魁
朱钦淼
申请人：
华中科技大学
申请人地址：
430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
IPC主分类号：
G06T7/00
IPC分类号：
G06T7/11
G06N3/0464
G06N3/09
G06V10/82
G06V10/764
代理机构：
华中科技大学专利中心 42201
代理人：
胡佳蕾
法律状态：
授权
国省代码：
湖北省
武汉市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-09-23 | 授权 | 授权 |