测试基座

被引：0

专利类型：

外观设计

申请号：

CN200830005319.9

申请日：

2008-02-03

公开(公告)号：

CN301175933S

公开(公告)日：

2010-04-21

发明(设计)人：

阿斯特丽德·齐格基奥提赖纳·奥嫩黑斯尔克里斯·格罗

申请人：

申请人地址：

德国上科亨

IPC主分类号：

1004

IPC分类号：

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

王新华

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-03-02	专利权的终止	专利权有效期届满主分类号:10-04 申请日:20080203 授权公告日:20100421
2010-04-21	授权	授权

共 50 条

[1]

手动测试基座 [P].

冯军宏 ;

刘云海 .

中国专利 :CN201532942U ,2010-07-21

[2]

测试基座及测试设备 [P].

金永斌 ;

占津晶 .

中国专利 :CN202929057U ,2013-05-08

[3]

焊线拉力测试仪的测试基座 [P].

郝兴旺 .

中国专利 :CN204330827U ,2015-05-13

[4]

超薄接地散热组件及测试基座 [P].

钱晓晨 ;

蔡泓羿 .

中国专利 :CN115003139A ,2022-09-02

[5]

适合不同规格晶片的测试基座 [P].

沈明东 .

中国专利 :CN2435839Y ,2001-06-20

[6]

一种大电流测试基座 [P].

吴斯杰 .

中国专利 :CN222838124U ,2025-05-06

[7]

一种齿模测试基座 [P].

王树龙 .

中国专利 :CN2565423Y ,2003-08-13

[8]

一种撞击力测试基座 [P].

王一凡 ;

张万红 ;

杨升茂 ;

牛俊博 ;

杨治哲 .

中国专利 :CN223485724U ,2025-10-28

[9]

共用型手动电性的测试基座 [P].

庄铭维 .

中国专利 :CN2674465Y ,2005-01-26

[10]

一种电路板功能测试基座 [P].

刘国仟 ;

邱斌团 ;

吴壬华 .

中国专利 :CN207336708U ,2018-05-08

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