测定硅锰合金、硅铁合金元素的X射线荧光光谱仪分析法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201210564808.3

申请日：

2012-12-24

公开(公告)号：

CN103884730A

公开(公告)日：

2014-06-25

发明(设计)人：

温春禄黄云华赖臻成伍玉根

申请人：

申请人地址：

365000 福建省三明市梅列区工业中路群工三路

IPC主分类号：

G01N23223

IPC分类号：

G01N128 G01N144

代理机构：

代理人：

法律状态：

发明专利申请公布后的视为撤回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-08-31	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101738388209 IPC(主分类):G01N 23/223 专利申请号:2012105648083 申请公布日:20140625
2014-07-16	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101583885060 IPC(主分类):G01N 23/223 专利申请号:2012105648083 申请日:20121224
2014-06-25	公开	公开

共 50 条

[1]

用于X射线荧光分析法测量硅锰合金中锰硅磷含量的试样的制备方法 [P].

齐超群 ;

郑昌清 ;

高三军 ;

李雪松 ;

张宁 ;

张娜 ;

韩爱丽 ;

黄正一 ;

李宏亮 .

中国专利 :CN108918563A ,2018-11-30

[2]

石墨坩埚熔样与X射线荧光结合测定硅铁合金元素的方法 [P].

孙丽娟 ;

蒲雪芬 ;

吴静 .

中国专利 :CN105784746A ,2016-07-20

[3]

熔体熔炼取样-X射线荧光光谱法分析钒铁合金成分的方法 [P].

杨新能 ;

冯宗平 ;

羊绍松 .

中国专利 :CN102253068B ,2011-11-23

[4]

用于X射线荧光法测定锰硅合金中锰硅磷试样的制备方法 [P].

王继峰 ;

杨茂松 .

中国专利 :CN113466274A ,2021-10-01

[5]

一种X射线荧光光谱仪检测铝锆中间合金的分析方法 [P].

辛晶 ;

李伟 ;

娄月 ;

王红伟 ;

戎新格 ;

贾忠伟 ;

杨伟绩 .

中国专利 :CN111239173A ,2020-06-05

[6]

一种X-射线荧光光谱仪测定高碳铬铁中铬的方法 [P].

马欢 ;

李桂东 ;

李秀忠 ;

金永春 ;

刘帅 .

中国专利 :CN120703137A ,2025-09-26

[7]

X射线荧光光谱仪用的样品杯 [P].

周陶鸿 ;

刘在原 ;

吴梅 ;

贾少朋 ;

江红 ;

李方晓 .

中国专利 :CN218239892U ,2023-01-06

[8]

用于X射线荧光光谱仪的定位装置 [P].

王亮 ;

苏耿贤 ;

何永强 ;

刘焱 ;

吕灼菲 .

中国专利 :CN210863601U ,2020-06-26

[9]

用于X射线荧光光谱仪的定位机构 [P].

彭茶花 .

中国专利 :CN112362681A ,2021-02-12

[10]

用于光谱仪的防护屏蔽装置和X射线荧光光谱仪 [P].

小詹姆斯·L·菲尔拉 ;

D·A·克里福德 ;

W·A·敏特尔 .

中国专利 :CN205593946U ,2016-09-21

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