测定材料电阻率的方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201010255051.0
申请日
2010-08-17
公开(公告)号
CN101923115A
公开(公告)日
2010-12-22
发明(设计)人
同艳维 方民宪 张雪峰 李国伟
申请人
申请人地址
617000 四川省攀枝花市东区机场路10号
IPC主分类号
G01R2702
IPC分类号
代理机构
成都虹桥专利事务所 51124
代理人
柯海军;武森涛
法律状态
授权
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
电阻率测定方法、半导体器件的制造方法、电阻率测定程序以及电阻率测定器 [P]. 
铁山千寻 .
中国专利 :CN114746990A ,2022-07-12
[2]
岩心电阻率测定系统 [P]. 
何家欢 ;
周克明 ;
曾理 ;
肖富森 ;
段勇 ;
陈洪斌 ;
邹春艳 ;
张伟 ;
王艳 .
中国专利 :CN208721710U ,2019-04-09
[3]
电阻率测定装置 [P]. 
曹国荣 ;
柏晓强 ;
邢文忠 ;
章林 ;
洪秀成 ;
柴云峰 .
中国专利 :CN218272495U ,2023-01-10
[4]
体积电阻率测定用抗燃油恒温装置及体积电阻率测定仪 [P]. 
王波 ;
李擎 ;
边宝丽 .
中国专利 :CN222734419U ,2025-04-08
[5]
单晶硅的电阻率测定方法 [P]. 
久米史高 ;
铃木由佳里 ;
北村浩一 ;
吉田昌弘 ;
横田修二 ;
江原幸治 .
中国专利 :CN113519040A ,2021-10-19
[6]
电阻率测定方法、半导体器件的制造方法、记录介质以及电阻率测定器 [P]. 
铁山千寻 .
日本专利 :CN114746990B ,2025-07-29
[7]
电阻率标准样本的制造方法以及磊晶晶圆的电阻率测定方法 [P]. 
久米史高 .
中国专利 :CN109643669A ,2019-04-16
[8]
电阻率测定方法、装置及系统 [P]. 
何家欢 ;
周克明 ;
曾理 ;
段勇 ;
李农 ;
肖富森 ;
陈洪斌 ;
余华洁 ;
邹春艳 .
中国专利 :CN108508274B ,2018-09-07
[9]
电阻率测定实验仪 [P]. 
呼格吉乐 ;
乐培界 .
中国专利 :CN201549107U ,2010-08-11
[10]
一种用于低电阻率材料的电阻率测试装置和测试方法 [P]. 
梅青松 ;
彭宇琦 ;
陈子豪 ;
廖凌祎 ;
谭媛媛 ;
柏鹭飞 ;
罗旭 ;
王欣璐 .
中国专利 :CN121208445A ,2025-12-26