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可靠性测试方法、装置和计算机存储介质
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202011587498.8
申请日
:
2020-12-28
公开(公告)号
:
CN112637881A
公开(公告)日
:
2021-04-09
发明(设计)人
:
陈土福
申请人
:
申请人地址
:
518057 广东省深圳市南山区高新南一道创维大厦A座14楼(仅作办公)
IPC主分类号
:
H04W2404
IPC分类号
:
H04W2408
H04W8412
代理机构
:
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287
代理人
:
胡海国
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-04-09
公开
公开
2021-04-27
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H04W 24/04 申请日:20201228
共 50 条
[1]
IPM可靠性测试方法、装置、系统及计算机存储介质
[P].
左安超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广东汇芯半导体有限公司
广东汇芯半导体有限公司
左安超
;
谢荣才
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广东汇芯半导体有限公司
广东汇芯半导体有限公司
谢荣才
;
王敏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广东汇芯半导体有限公司
广东汇芯半导体有限公司
王敏
.
中国专利
:CN112904138B
,2024-05-24
[2]
IPM可靠性测试方法、装置、系统及计算机存储介质
[P].
左安超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
左安超
;
谢荣才
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
谢荣才
;
王敏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王敏
.
中国专利
:CN112904138A
,2021-06-04
[3]
硬盘稳定可靠性测试方法、测试系统及计算机存储介质
[P].
邹宇翔
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邹宇翔
;
曾伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
曾伟
;
王萌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王萌
.
中国专利
:CN113742148A
,2021-12-03
[4]
CPLD可靠性测试方法、装置、计算机设备和存储介质
[P].
胡湘洪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
胡湘洪
;
胡凛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
胡凛
;
韩立帅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
韩立帅
;
李家辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
李家辉
.
中国专利
:CN118191559A
,2024-06-14
[5]
可靠性测试方法、装置、计算机设备及存储介质
[P].
蒋忠伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
天合光能股份有限公司
天合光能股份有限公司
蒋忠伟
;
贾子龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
天合光能股份有限公司
天合光能股份有限公司
贾子龙
;
王乐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
天合光能股份有限公司
天合光能股份有限公司
王乐
;
朱沛瑶
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
天合光能股份有限公司
天合光能股份有限公司
朱沛瑶
.
中国专利
:CN117805532A
,2024-04-02
[6]
可靠性测试方法、装置、计算机设备及存储介质
[P].
蒋忠伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
天合光能股份有限公司
天合光能股份有限公司
蒋忠伟
;
贾子龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
天合光能股份有限公司
天合光能股份有限公司
贾子龙
;
王乐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
天合光能股份有限公司
天合光能股份有限公司
王乐
;
朱沛瑶
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
天合光能股份有限公司
天合光能股份有限公司
朱沛瑶
.
中国专利
:CN117805532B
,2025-12-02
[7]
内存可靠性测试方法、系统、计算机设备和存储介质
[P].
李长治
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李长治
.
中国专利
:CN115480967A
,2022-12-16
[8]
闪存的可靠性测试方法及计算机可读存储介质
[P].
陈宏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
陈宏
.
中国专利
:CN113838518B
,2024-03-22
[9]
闪存的可靠性测试方法及计算机可读存储介质
[P].
陈宏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈宏
.
中国专利
:CN113838518A
,2021-12-24
[10]
生产线可靠性测试方法、装置、计算机设备和存储介质
[P].
林家全
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
林家全
;
杨东裕
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨东裕
;
张旭阳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张旭阳
;
林军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
林军
.
中国专利
:CN111752243B
,2020-10-09
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