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可靠性测试方法、装置、计算机设备及存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202311869716.0
申请日：
2023-12-29
公开(公告)号：
CN117805532B
公开(公告)日：
2025-12-02
发明(设计)人：
蒋忠伟 贾子龙 王乐 朱沛瑶
申请人：
天合光能股份有限公司
申请人地址：
213031 江苏省常州市新北区天合光伏产业园天合路2号
IPC主分类号：
G01R31/00
IPC分类号：
G01R31/50
代理机构：
华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人：
邱志强
法律状态：
公开
国省代码：
江苏省 常州市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-04-02 公开 公开
2025-12-02 授权 授权
2024-04-19 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/00申请日:20231229
共 50 条
[1]
可靠性测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
蒋忠伟 ;
贾子龙 ;
王乐 ;
朱沛瑶 .
中国专利 :CN117805532A ,2024-04-02
[2]
CPLD可靠性测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
胡湘洪 ;
胡凛 ;
韩立帅 ;
李家辉 .
中国专利 :CN118191559A ,2024-06-14
[3]
内存可靠性测试方法、系统、计算机设备和存储介质 [P]. 
李长治 .
中国专利 :CN115480967A ,2022-12-16
[4]
生产线可靠性测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
林家全 ;
杨东裕 ;
张旭阳 ;
林军 .
中国专利 :CN111752243B ,2020-10-09
[5]
处理器可靠性测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
朱伟欣 ;
胡湘洪 ;
翟芳 ;
王玉忠 ;
徐军军 .
中国专利 :CN118277176B ,2025-04-11
[6]
处理器可靠性测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
朱伟欣 ;
胡湘洪 ;
翟芳 ;
王玉忠 ;
徐军军 .
中国专利 :CN118277176A ,2024-07-02
[7]
模型可靠性测试方法、装置、计算机设备、介质及产品 [P]. 
柳聪 ;
钱青 ;
胡辰 .
中国专利 :CN121031693A ,2025-11-28
[8]
一种系统可靠性测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
张婷 ;
黄威琪 .
中国专利 :CN115098372A ,2022-09-23
[9]
数据可靠性检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
马越 ;
冯元元 ;
周晨杰 ;
周强 .
中国专利 :CN109947368A ,2019-06-28
[10]
可靠性评估方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
万文菲 ;
李小兵 ;
陈钼 ;
徐鹏飞 ;
尚斌 ;
吴和龙 ;
林煜森 ;
杨剑锋 ;
莫冰 .
中国专利 :CN117634982A ,2024-03-01
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