处理器可靠性测试方法、装置、计算机设备和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410523485.6

申请日：

2024-04-28

公开(公告)号：

CN118277176A

公开(公告)日：

2024-07-02

发明(设计)人：

朱伟欣胡湘洪翟芳王玉忠徐军军

申请人：

中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））

申请人地址：

511370 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

G06F11/26

代理机构：

华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

袁武

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-07-19	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20240428
2024-07-02	公开	公开
2025-04-11	授权	授权

共 50 条

[1]

处理器可靠性测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

朱伟欣 ;

胡湘洪 ;

翟芳 ;

王玉忠 ;

徐军军 .

中国专利 :CN118277176B ,2025-04-11

[2]

CPLD可靠性测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

胡湘洪 ;

胡凛 ;

韩立帅 ;

李家辉 .

中国专利 :CN118191559A ,2024-06-14

[3]

可靠性测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

蒋忠伟 ;

贾子龙 ;

王乐 ;

朱沛瑶 .

中国专利 :CN117805532A ,2024-04-02

[4]

可靠性测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

蒋忠伟 ;

贾子龙 ;

王乐 ;

朱沛瑶 .

中国专利 :CN117805532B ,2025-12-02

[5]

内存可靠性测试方法、系统、计算机设备和存储介质 [P].

李长治 .

中国专利 :CN115480967A ,2022-12-16

[6]

生产线可靠性测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

林家全 ;

杨东裕 ;

张旭阳 ;

林军 .

中国专利 :CN111752243B ,2020-10-09

[7]

可靠性测试方法、装置和计算机存储介质 [P].

陈土福 .

中国专利 :CN112637881A ,2021-04-09

[8]

可靠性评估方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

万文菲 ;

李小兵 ;

陈钼 ;

徐鹏飞 ;

尚斌 ;

吴和龙 ;

林煜森 ;

杨剑锋 ;

莫冰 .

中国专利 :CN117634982A ,2024-03-01

[9]

可靠性评估方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

潘广泽 ;

罗琴 ;

李小兵 ;

黄创绵 ;

王远航 ;

成克强 ;

杨剑锋 ;

刘文威 ;

丁小健 ;

董成举 .

中国专利 :CN111104644A ,2020-05-05

[10]

可靠性检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

章锐 .

中国专利 :CN118338337A ,2024-07-12

← 1 2 3 4 5 →