一种单颗芯片手动测试治具

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202120119178.3

申请日：

2021-01-15

公开(公告)号：

CN216051814U

公开(公告)日：

2022-03-15

发明(设计)人：

李富彬施亮付艳波

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市龙华区大浪街道浪口社区华明路仪佳扬工业园1栋1层2栋1层、2、4层

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

G01R1073 G01R3128

代理机构：

深圳市中科创为专利代理有限公司 44384

代理人：

王建成;谭雪婷

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-03-15	授权	授权

共 50 条

[1]

手动测试治具 [P].

赖志鈞 .

中国专利 :CN201196656Y ,2009-02-18

[2]

手动测试治具 [P].

嵇杰 .

中国专利 :CN204346479U ,2015-05-20

[3]

手动测试治具 [P].

许可贵 ;

苏祥辉 .

中国专利 :CN218036905U ,2022-12-13

[4]

半导体芯片手动测试治具 [P].

陈金荣 .

中国专利 :CN301793643S ,2012-01-11

[5]

一种新型手动测试治具 [P].

吕日奎 .

中国专利 :CN205809243U ,2016-12-14

[6]

一种单颗产品打印治具 [P].

王天龙 ;

唐伟炜 ;

宋志颖 ;

张竞扬 .

中国专利 :CN216354085U ,2022-04-19

[7]

一种芯片测试治具 [P].

刘强兵 ;

吕旭钢 .

中国专利 :CN216485358U ,2022-05-10

[8]

一种芯片测试治具 [P].

夏俊杰 ;

林华胜 ;

顾红伟 .

中国专利 :CN223155049U ,2025-07-25

[9]

一种芯片测试治具 [P].

杜娟 .

中国专利 :CN210604707U ,2020-05-22

[10]

一种芯片测试治具 [P].

李静 ;

蔡海燕 ;

李琳琳 .

中国专利 :CN217360188U ,2022-09-02

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