快速温度变化测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201620230442.X

申请日：

2016-03-24

公开(公告)号：

CN205826446U

公开(公告)日：

2016-12-21

发明(设计)人：

刘海文

申请人：

申请人地址：

510000 广东省广州市天河区中山大道建中路5号804室

IPC主分类号：

G01N360

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-03-11	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 3/60 申请日:20160324 授权公告日:20161221 终止日期:20210324
2016-12-21	授权	授权

共 50 条

[1]

温度测试装置 [P].

李金宝 ;

刘兴 ;

王森 .

中国专利 :CN211553125U ,2020-09-22

[2]

温度测试装置及温度测试系统 [P].

何凯 ;

彭荔枝 ;

刘嫚 .

中国专利 :CN209131842U ,2019-07-19

[3]

一种电路板温度变化测试装置 [P].

吕正山 ;

吴春梅 .

中国专利 :CN215573447U ,2022-01-18

[4]

快速温度变化试验设备 [P].

谈贞荣 ;

王晖 .

中国专利 :CN202630984U ,2012-12-26

[5]

一种无纺布温度变化测试装置 [P].

曹青福 ;

毛萃 ;

李焕焕 ;

孙波 ;

孟凡锦 ;

张月 ;

史记 .

中国专利 :CN217212371U ,2022-08-16

[6]

温度继电器的测试装置 [P].

霍风祥 ;

李涛 ;

李鹏飞 .

中国专利 :CN210572617U ,2020-05-19

[7]

一种温度测试装置 [P].

杨显清 ;

杨萌 .

中国专利 :CN215679153U ,2022-01-28

[8]

相变温度测试装置 [P].

徐洋 .

中国专利 :CN222364939U ,2025-01-17

[9]

芯片温度测试装置 [P].

杨建设 ;

张雅凯 .

中国专利 :CN222028370U ,2024-11-19

[10]

一种温度传感器测试装置 [P].

董颍珂 ;

权志勇 .

中国专利 :CN209069460U ,2019-07-05

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