冒烟测试的方法、装置、存储介质和电子设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202110570183.0
申请日
2021-05-25
公开(公告)号
CN113282493A
公开(公告)日
2021-08-20
发明(设计)人
刘书伶 雷陈灵 赵亮
申请人
申请人地址
100089 北京市海淀区清河安宁庄东路18号23号楼二层2223
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
G06F16242
代理机构
北京恒博知识产权代理有限公司 11528
代理人
张晓芳
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
冒烟测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
石航 ;
杜往泽 ;
李挺 .
中国专利 :CN119201670A ,2024-12-27
[2]
冒烟测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
石航 ;
杜往泽 ;
李挺 .
中国专利 :CN119201670B ,2025-10-24
[3]
测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
倪丙庆 .
中国专利 :CN113190451B ,2025-03-21
[4]
测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
倪丙庆 .
中国专利 :CN113190451A ,2021-07-30
[5]
测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
李媛媛 ;
刘刚 ;
杨帆 ;
于连照 ;
王轶凡 ;
张钋 .
中国专利 :CN115509909A ,2022-12-23
[6]
存储设备的测试方法和装置、存储介质及电子设备 [P]. 
刘聖福 ;
吴丰硕 ;
刘福东 .
中国专利 :CN120762984B ,2025-11-21
[7]
存储设备的测试方法和装置、存储介质及电子设备 [P]. 
刘聖福 ;
吴丰硕 ;
刘福东 .
中国专利 :CN120762984A ,2025-10-10
[8]
程序测试的方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
张东 .
中国专利 :CN113138935A ,2021-07-20
[9]
容错测试的方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
王前勇 ;
邱文静 .
中国专利 :CN113778842B ,2024-11-26
[10]
容错测试的方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
王前勇 ;
邱文静 .
中国专利 :CN113778842A ,2021-12-10