酰氯化分离/ICP‑MS法测定高纯铬中痕量杂质元素含量的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201611134164.9

申请日：

2016-12-10

公开(公告)号：

CN106596700A

公开(公告)日：

2017-04-26

发明(设计)人：

王金磊李波钱军民罗琳孙宝莲刘雷雷禄妮

申请人：

申请人地址：

710016 陕西省西安市未央路96号

IPC主分类号：

G01N2762

IPC分类号：

代理机构：

西安创知专利事务所 61213

代理人：

谭文琰

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-04-26	公开	公开
2020-09-04	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N 27/62 申请公布日:20170426
2017-05-24	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101721569415 IPC(主分类):G01N 27/62 专利申请号:2016111341649 申请日:20161210

共 50 条

[1]

ICP-MS测定高纯石英中杂质元素含量的方法 [P].

王小强 ;

颜蕙园 ;

张会 ;

施娅颖 ;

梁倩 ;

何沙白 ;

杜天军 ;

王书勤 ;

赵亚男 ;

宋志敏 .

中国专利 :CN120404897A ,2025-08-01

[2]

高纯铬中微量元素杂质的ICP-MS测定方法 [P].

葛晶晶 ;

刘洁 ;

任玲玲 ;

禹青霄 ;

李伟 ;

杨慧贤 ;

刘宏强 ;

安治国 .

中国专利 :CN104597110A ,2015-05-06

[3]

高纯铅中微量金属杂质的ICP-MS测定方法 [P].

李本涛 ;

冯典英 ;

赵华 ;

黄辉 .

中国专利 :CN101551357A ,2009-10-07

[4]

辉光放电质谱法测定高纯铟中的痕量杂质元素 [P].

刘红 ;

李爱嫦 .

中国专利 :CN103884772A ,2014-06-25

[5]

测定高纯四氟化锗中痕量杂质元素含量的采样及测试方法 [P].

罗中旭 ;

普世坤 ;

尹国文 ;

李正美 ;

吴王昌 ;

刘文君 ;

朱知国 ;

谢天敏 ;

陈维迪 ;

林作亮 .

中国专利 :CN112730591A ,2021-04-30

[6]

以ICP-MS法测定高纯砷中杂质元素的制样方法 [P].

李显坪 ;

王继荣 ;

陈琦 ;

杨华琴 ;

何卫卫 .

中国专利 :CN102072833A ,2011-05-25

[7]

高纯硼酸中痕量杂质元素钠、镁、钙、铁、铅的测定方法 [P].

李可及 ;

易建春 ;

刘卫 ;

雷勇 .

中国专利 :CN102928364B ,2013-02-13

[8]

一种纯铼中痕量杂质元素的测定方法 [P].

年季强 ;

浦益龙 ;

吕水永 ;

刘青青 ;

华剑 .

中国专利 :CN107741451A ,2018-02-27

[9]

ICP‑AES法测定钇镁合金中杂质元素的方法 [P].

丛琳琳 ;

田小亭 ;

王凡 ;

白福全 ;

耿东方 ;

金英 .

中国专利 :CN107449769A ,2017-12-08

[10]

一种高纯铽及化合物中痕量杂质稀土元素含量的检测方法 [P].

孙海峰 ;

陈雄飞 ;

田佳 ;

贾国斌 ;

张芳 ;

李娜 .

中国专利 :CN111896607A ,2020-11-06

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