高纯硼酸中痕量杂质元素钠、镁、钙、铁、铅的测定方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201210412408.0

申请日：

2012-10-25

公开(公告)号：

CN102928364B

公开(公告)日：

2013-02-13

发明(设计)人：

李可及易建春刘卫雷勇

申请人：

申请人地址：

610041 四川省成都市武侯区二环路南三段5号

IPC主分类号：

G01N2131

IPC分类号：

G01N2173 G01N128 G01N144

代理机构：

成都天嘉专利事务所(普通合伙) 51211

代理人：

方强

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-09-10	授权	授权
2019-10-18	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 21/31 申请日:20121025 授权公告日:20140910 终止日期:20181025
2013-03-20	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101415530686 IPC(主分类):G01N 21/31 专利申请号:2012104124080 申请日:20121025
2013-02-13	公开	公开

共 50 条

[1]

硼酸中痕量无机杂质的测定方法 [P].

谢增春 ;

万小红 ;

朱刘 .

中国专利 :CN105319203A ,2016-02-10

[2]

一种高浓度硫酸氧钒溶液中痕量杂质元素含量的测定方法 [P].

张忠裕 ;

蒲年文 ;

刘在波 ;

荆七一 .

中国专利 :CN108344730A ,2018-07-31

[3]

辉光放电质谱法测定高纯铟中的痕量杂质元素 [P].

刘红 ;

李爱嫦 .

中国专利 :CN103884772A ,2014-06-25

[4]

一种测定氧化镍中钾、钠、钙、硅、镁元素含量的方法 [P].

李帆 ;

叶晓英 .

中国专利 :CN102721582A ,2012-10-10

[5]

测定高纯四氟化锗中痕量杂质元素含量的采样及测试方法 [P].

罗中旭 ;

普世坤 ;

尹国文 ;

李正美 ;

吴王昌 ;

刘文君 ;

朱知国 ;

谢天敏 ;

陈维迪 ;

林作亮 .

中国专利 :CN112730591A ,2021-04-30

[6]

高纯钽中痕量杂质的测定方法 [P].

李艳芬 ;

童坚 ;

刘英 ;

张卓 ;

佟伶 ;

李满芝 .

中国专利 :CN102565206B ,2012-07-11

[7]

酰氯化分离/ICP‑MS法测定高纯铬中痕量杂质元素含量的方法 [P].

王金磊 ;

李波 ;

钱军民 ;

罗琳 ;

孙宝莲 ;

刘雷雷 ;

禄妮 .

中国专利 :CN106596700A ,2017-04-26

[8]

一种测定纯铜中痕量稀土元素镧含量的方法 [P].

郭宏杰 .

中国专利 :CN114324304A ,2022-04-12

[9]

一种纯铼中痕量杂质元素的测定方法 [P].

年季强 ;

浦益龙 ;

吕水永 ;

刘青青 ;

华剑 .

中国专利 :CN107741451A ,2018-02-27

[10]

测定钼铁中杂质元素砷、锡、锑的方法 [P].

刘金祥 .

中国专利 :CN101435775A ,2009-05-20

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