高纯钽中痕量杂质的测定方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201010597964.0

申请日：

2010-12-21

公开(公告)号：

CN102565206B

公开(公告)日：

2012-07-11

发明(设计)人：

李艳芬童坚刘英张卓佟伶李满芝

申请人：

申请人地址：

100088 北京市西城区新街口外大街2号

IPC主分类号：

G01N3002

IPC分类号：

G01N3086

代理机构：

北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100

代理人：

耿小强

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-06-19	授权	授权
2016-06-22	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101734333793 IPC(主分类):G01N 30/02 专利号:ZL2010105979640 登记生效日:20160530 变更事项:专利权人变更前权利人:北京有色金属研究总院变更后权利人:国标(北京)检验认证有限公司变更事项:地址变更前权利人:100088 北京市西城区新街口外大街2号变更后权利人:101407 北京市怀柔区雁栖经济开发区杨雁路88号
2012-09-12	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101324739351 IPC(主分类):G01N 30/02 专利申请号:2010105979640 申请日:20101221
2019-01-25	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):G01N 30/02 登记生效日:20190107 变更事项:专利权人变更前权利人:国标（北京）检验认证有限公司变更后权利人:国合通用（青岛）测试评价有限公司变更事项:地址变更前权利人:101407 北京市怀柔区雁栖经济开发区杨雁路88号变更后权利人:266041 山东省青岛市市北区四流南路80号乙
2012-07-11	公开	公开

共 50 条

[1]

一种高纯钽中杂质含量测定方法 [P].

巩琛 ;

赵华 ;

黄辉 ;

李颖 ;

李本涛 ;

张嘉祺 ;

张雨 ;

刘霞 ;

王威 ;

赵辉 .

中国专利 :CN118483312A ,2024-08-13

[2]

辉光放电质谱法测定高纯铟中的痕量杂质元素 [P].

刘红 ;

李爱嫦 .

中国专利 :CN103884772A ,2014-06-25

[3]

高纯硼酸中痕量杂质元素钠、镁、钙、铁、铅的测定方法 [P].

李可及 ;

易建春 ;

刘卫 ;

雷勇 .

中国专利 :CN102928364B ,2013-02-13

[4]

一种纯铼中痕量杂质元素的测定方法 [P].

年季强 ;

浦益龙 ;

吕水永 ;

刘青青 ;

华剑 .

中国专利 :CN107741451A ,2018-02-27

[5]

硼酸中痕量无机杂质的测定方法 [P].

谢增春 ;

万小红 ;

朱刘 .

中国专利 :CN105319203A ,2016-02-10

[6]

测定高纯四氟化锗中痕量杂质元素含量的采样及测试方法 [P].

罗中旭 ;

普世坤 ;

尹国文 ;

李正美 ;

吴王昌 ;

刘文君 ;

朱知国 ;

谢天敏 ;

陈维迪 ;

林作亮 .

中国专利 :CN112730591A ,2021-04-30

[7]

一种高纯二氧化硅中痕量杂质元素的测定方法 [P].

谭秀珍 ;

李瑶 ;

邓育宁 ;

朱刘 .

中国专利 :CN110470724A ,2019-11-19

[8]

酰氯化分离/ICP‑MS法测定高纯铬中痕量杂质元素含量的方法 [P].

王金磊 ;

李波 ;

钱军民 ;

罗琳 ;

孙宝莲 ;

刘雷雷 ;

禄妮 .

中国专利 :CN106596700A ,2017-04-26

[9]

ICP-MS测定高纯石英中杂质元素含量的方法 [P].

王小强 ;

颜蕙园 ;

张会 ;

施娅颖 ;

梁倩 ;

何沙白 ;

杜天军 ;

王书勤 ;

赵亚男 ;

宋志敏 .

中国专利 :CN120404897A ,2025-08-01

[10]

用于分析多种高纯气体中微量或痕量杂质的方法 [P].

李春 ;

陈刚 ;

彭树红 ;

黄涛宏 .

中国专利 :CN119165106A ,2024-12-20

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