光子集成电路、光检测和测距系统及用于操作光子集成电路、光检测和测距系统的方法

被引：0

申请号：

CN202080081994.8

申请日：

2020-09-25

公开(公告)号：

CN114761847A

公开(公告)日：

2022-07-15

发明(设计)人：

G·拉库尔吉克 N·萨蒂安 Y·维伦奇克 R·弗里德曼 D·格罗登斯基 I·彼得罗纽斯 A·亚里弗

申请人：

申请人地址：

美国加利福尼亚州

IPC主分类号：

G02B6122

IPC分类号：

G01S7481 G01S1710 G02B612

代理机构：

上海专利商标事务所有限公司 31100

代理人：

黄嵩泉;李炜

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-01-17	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G02B 6/122 申请日:20200925
2022-07-15	公开	公开

共 50 条

[1]

光子集成电路和光检测和测距系统 [P].

W·哈延加 ;

G·拉库尔吉克 ;

E·滕普拉纳吉拉尔多 .

美国专利 :CN117501160A ,2024-02-02

[2]

光子集成电路以及光探测和测距系统 [P].

阿尼梅什·班纳吉 ;

威廉·海恩加 ;

爱德华多·特姆普拉纳·吉拉尔多 ;

皮尔·杜西尔 ;

理查德·琼斯 ;

乔治·拉库利奇 .

美国专利 :CN117546037A ,2024-02-09

[3]

光子集成电路芯片和用于光子集成电路的组件 [P].

F·伯夫 ;

L·马吉 .

中国专利 :CN211856976U ,2020-11-03

[4]

光子集成电路和方法 [P].

史蒂文·埃弗拉德·菲利普斯·克莱因 ;

安东尼奥·博纳尔迪 .

中国专利 :CN115023684A ,2022-09-06

[5]

光子集成电路 [P].

C·加德纳 ;

J·德里斯科尔 ;

K·L·贝克特尔 .

英国专利 :CN118076293A ,2024-05-24

[6]

制造光子集成电路的方法、光子集成电路及装置 [P].

郑大卫 ;

葛毅 ;

杨莉 ;

沈晓 .

中国专利 :CN111886528B ,2020-11-03

[7]

用于光子集成电路的光源及其制造方法和光子集成电路 [P].

闵垘基 ;

金泽 ;

朴永洙 .

中国专利 :CN103217737A ,2013-07-24

[8]

光子集成电路 [P].

S·盖尔贝 ;

C·鲍多特 ;

F·多芒吉 .

中国专利 :CN207650434U ,2018-07-24

[9]

光子集成电路及包括该光子集成电路的光电系统 [P].

H·茨杰克汉斯 .

中国专利 :CN115128736A ,2022-09-30

[10]

光子集成电路 [P].

S·普罗伊 .

德国专利 :CN111624704B ,2024-10-01

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