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一种芯片检测用高压测试装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202120534169.0
申请日：
2021-03-15
公开(公告)号：
CN214473772U
公开(公告)日：
2021-10-22
发明(设计)人：
陈益群
季学敏
蔡毅
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市福田区华强北街道福强社区深南中路2070号中电广场大厦4层D4F07室
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
G01R104
代理机构：
深圳市道勤知酷知识产权代理事务所(普通合伙) 44439
代理人：
何兵;吕诗
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-10-22 | 授权 | 授权 |