一种芯片高压测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410682452.6

申请日：

2024-05-29

公开(公告)号：

CN118584296B

公开(公告)日：

2024-11-19

发明(设计)人：

陈志宝

申请人：

旷泰科技（上海）有限公司

申请人地址：

201821 上海市嘉定区嘉定工业区叶城路925号A区4幢217室

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/12 G01R1/04 B25B11/00

代理机构：

上海谱璟专利代理事务所(普通合伙) 31422

代理人：

吕琳琳

法律状态：

授权

国省代码：

上海市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-19	授权	授权
2024-09-20	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20240529
2024-09-03	公开	公开

共 50 条

[1]

一种芯片高压测试装置 [P].

陈志宝 .

中国专利 :CN118584296A ,2024-09-03

[2]

一种芯片高压测试装置 [P].

陈蒙 .

中国专利 :CN221350992U ,2024-07-16

[3]

一种芯片检测用高压测试装置 [P].

陈益群 ;

季学敏 ;

蔡毅 .

中国专利 :CN214473772U ,2021-10-22

[4]

一种刹车卡钳高压测试装置 [P].

陈俊青 .

中国专利 :CN213398778U ,2021-06-08

[5]

一种高压测试装置 [P].

邹宇华 ;

张鸿伟 .

中国专利 :CN211453861U ,2020-09-08

[6]

一种高压测试装置 [P].

马泽波 .

中国专利 :CN215894693U ,2022-02-22

[7]

一种高压测试装置 [P].

韦善宁 ;

侯光辉 .

中国专利 :CN207148163U ,2018-03-27

[8]

一种高压测试装置 [P].

丁忠军 ;

朱玉华 .

中国专利 :CN214845586U ,2021-11-23

[9]

一种高压测试站及高压测试装置 [P].

吕微 ;

熊陈玉 ;

朱晓琳 .

中国专利 :CN118491447B ,2024-11-29

[10]

一种高压测试装置及高压测试方法 [P].

冼武 .

中国专利 :CN103207324A ,2013-07-17

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