污染原因分析方法、装置、可读存储介质及电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201911173633.1

申请日：

2019-11-26

公开(公告)号：

CN111047160A

公开(公告)日：

2020-04-21

发明(设计)人：

王秀亮邵千益闫怀忠周学华王兰兰勾红领陈福印张洋

申请人：

申请人地址：

250000 山东省济南市高新区中国(山东)自由贸易试验区济南片区舜华路1号齐鲁软件园2号楼(创业广场B座)五层A502

IPC主分类号：

G06Q1006

IPC分类号：

G06Q5008 G06F162458

代理机构：

北京超成律师事务所 11646

代理人：

孔默

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-04-21	公开	公开
2020-05-15	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06Q 10/06 申请日:20191126

共 50 条

[1]

设备掉线原因分析方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

胡伟健 .

中国专利 :CN107590012B ,2018-01-16

[2]

一种投诉原因分析方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

胡勇 .

中国专利 :CN114615691A ,2022-06-10

[3]

内存不足的原因分析方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘志文 ;

张莹莹 .

中国专利 :CN113722142A ,2021-11-30

[4]

污染气体泄漏分析方法、装置、电子设备和可读存储介质 [P].

李兴华 ;

袁子龙 ;

郭乐乐 .

中国专利 :CN114004394A ,2022-02-01

[5]

不良显示故障原因分析方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

傅晓立 .

中国专利 :CN119418663B ,2025-11-07

[6]

不良显示故障原因分析方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

傅晓立 .

中国专利 :CN119418663A ,2025-02-11

[7]

亏电故障原因分析方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

胡晓文 ;

刘植元 ;

赵晓莉 ;

何建标 ;

李扬号 .

中国专利 :CN117991131A ,2024-05-07

[8]

漏斗分析方法、分析设备、电子设备及可读存储介质 [P].

刘承成 ;

高帮胜 ;

黄成 .

中国专利 :CN111523921A ,2020-08-11

[9]

目标分析方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

傅广怀 ;

罗仕胜 ;

翁力帆 ;

陆沛琳 ;

陈益新 .

中国专利 :CN110543887A ,2019-12-06

[10]

智能分析方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

赵功伟 ;

周建 .

中国专利 :CN112860426B ,2024-03-01

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