不良显示故障原因分析方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411616187.8

申请日：

2024-11-12

公开(公告)号：

CN119418663A

公开(公告)日：

2025-02-11

发明(设计)人：

傅晓立

申请人：

深圳创维显示科技有限公司

申请人地址：

518108 广东省深圳市宝安区石岩街道塘头社区创维科技工业园实住验厂一层

IPC主分类号：

G09G3/36

IPC分类号：

G02F1/1362 G09G3/00

代理机构：

北京华夏泰和知识产权代理有限公司 11662

代理人：

杜欣

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-07	授权	授权
2025-02-28	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G09G 3/36申请日:20241112
2025-02-11	公开	公开

共 50 条

[1]

不良显示故障原因分析方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

傅晓立 .

中国专利 :CN119418663B ,2025-11-07

[2]

亏电故障原因分析方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

胡晓文 ;

刘植元 ;

赵晓莉 ;

何建标 ;

李扬号 .

中国专利 :CN117991131A ,2024-05-07

[3]

故障原因确定方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

邵茂林 ;

韩钊明 ;

高鑫宇 .

中国专利 :CN117348585A ,2024-01-05

[4]

显示面板不良分析方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

李育光 .

中国专利 :CN118883586A ,2024-11-01

[5]

确定不良原因的方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

曾颖黎 ;

刘亚光 ;

杨素传 .

中国专利 :CN110276410B ,2019-09-24

[6]

故障原因确定方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张能维 ;

廖钱深 ;

黄荣舜 ;

曾涛 ;

周兵 ;

周静 .

中国专利 :CN120255429A ,2025-07-04

[7]

故障原因定位方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

吴薇 .

中国专利 :CN113132125B ,2021-07-16

[8]

设备掉线原因分析方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

胡伟健 .

中国专利 :CN107590012B ,2018-01-16

[9]

确定不良原因的方法、电子设备、存储介质及系统 [P].

王海金 ;

薛静 .

中国专利 :CN113597664A ,2021-11-02

[10]

确定不良原因的方法、电子设备、存储介质及系统 [P].

王海金 ;

薛静 .

中国专利 :CN113597664B ,2024-08-20

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