共 50 条
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确定不良原因的方法、电子设备、存储介质及系统
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202080000026.X
申请日：
2020-01-14
公开(公告)号：
CN113597664B
公开(公告)日：
2024-08-20
发明(设计)人：
王海金
薛静
申请人：
京东方科技集团股份有限公司
北京京东方光电科技有限公司
申请人地址：
100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号
IPC主分类号：
H01L21/66
IPC分类号：
G01N21/956
代理机构：
北京市柳沈律师事务所 11105
代理人：
王娟
法律状态：
授权
国省代码：
安徽省
宣城市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-08-20 | 授权 | 授权 |