一种COC芯片老化测试设备

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201920500787.6
申请日
2019-04-12
公开(公告)号
CN210072002U
公开(公告)日
2020-02-14
发明(设计)人
胡思强 李连城 周益平
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市宝安区南头街道深南大道10128号南山软件园东塔楼805室
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
深圳卓正专利代理事务所(普通合伙) 44388
代理人
万正平
法律状态
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
一种COC芯片老化测试治具 [P]. 
胡海龙 ;
李俊锋 ;
袁春俭 ;
谢少波 ;
朱轩 .
中国专利 :CN215375684U ,2021-12-31
[2]
一种移动式COC老化测试设备 [P]. 
李家桐 .
中国专利 :CN208752174U ,2019-04-16
[3]
一种便于维护的COC老化测试设备 [P]. 
李家桐 .
中国专利 :CN209090364U ,2019-07-12
[4]
一种节能型COC老化测试设备 [P]. 
李家桐 .
中国专利 :CN208752172U ,2019-04-16
[5]
一种用于COC老化测试的测试夹具 [P]. 
李家桐 .
中国专利 :CN208752105U ,2019-04-16
[6]
一种改良的COC老化测试设备 [P]. 
李家桐 .
中国专利 :CN208752171U ,2019-04-16
[7]
一种便于取拿的COC老化测试设备 [P]. 
李家桐 .
中国专利 :CN208752175U ,2019-04-16
[8]
一种COC老化测试用固定夹具 [P]. 
李家桐 .
中国专利 :CN208752104U ,2019-04-16
[9]
一种COC老化测试用组合夹具 [P]. 
李家桐 .
中国专利 :CN208752108U ,2019-04-16
[10]
一种芯片老化测试设备 [P]. 
李喜强 ;
苏捷峰 ;
豆平涛 .
中国专利 :CN215599310U ,2022-01-21