一种COC芯片老化测试治具

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202121532971.2

申请日：

2021-07-06

公开(公告)号：

CN215375684U

公开(公告)日：

2021-12-31

发明(设计)人：

胡海龙李俊锋袁春俭谢少波朱轩

申请人：

申请人地址：

201802 上海市嘉定区银翔路819弄502

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

上海中外企专利代理事务所(特殊普通合伙) 31387

代理人：

孙益青

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-12-31	授权	授权

共 50 条

[1]

一种COC芯片老化测试设备 [P].

胡思强 ;

李连城 ;

周益平 .

中国专利 :CN210072002U ,2020-02-14

[2]

一种COC鱼骨芯片测试治具 [P].

袁春俭 ;

李俊锋 ;

胡海龙 ;

毛世林 ;

刘香 .

中国专利 :CN119555974A ,2025-03-04

[3]

一种长基板COC老化测试治具 [P].

邹支农 .

中国专利 :CN222049526U ,2024-11-22

[4]

一种LED芯片老化测试治具 [P].

骆乾峰 ;

赵龙 .

中国专利 :CN217521216U ,2022-09-30

[5]

芯片老化治具 [P].

罗成 ;

王远青 ;

毛光辉 .

中国专利 :CN223692402U ,2025-12-19

[6]

老化测试治具 [P].

邵继铭 ;

刘坚辉 ;

胡盛俊 .

中国专利 :CN202093107U ,2011-12-28

[7]

一种老化测试治具 [P].

蒋长春 ;

陶程钰 ;

董志伟 ;

孙帮帮 .

中国专利 :CN213240338U ,2021-05-18

[8]

一种老化测试治具 [P].

李给武 ;

冯星宇 .

中国专利 :CN212059141U ,2020-12-01

[9]

一种老化测试治具 [P].

夏云 ;

郭建科 .

中国专利 :CN206497164U ,2017-09-15

[10]

一种老化测试治具 [P].

邓清桃 .

中国专利 :CN207703980U ,2018-08-07

← 1 2 3 4 5 →