一种COC鱼骨芯片测试治具

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510037295.8
申请日
2025-01-09
公开(公告)号
CN119555974A
公开(公告)日
2025-03-04
发明(设计)人
袁春俭 李俊锋 胡海龙 毛世林 刘香
申请人
上海爵企电子科技有限公司
申请人地址
200000 上海市嘉定区真南路4268号2幢J12831室
IPC主分类号
G01R1/04
IPC分类号
G01R31/28
代理机构
苏州睿翼专利代理事务所(普通合伙) 32514
代理人
万海江
法律状态
公开
国省代码
上海市 市辖区
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共 50 条
[1]
一种COC芯片老化测试治具 [P]. 
胡海龙 ;
李俊锋 ;
袁春俭 ;
谢少波 ;
朱轩 .
中国专利 :CN215375684U ,2021-12-31
[2]
芯片测试治具 [P]. 
孙圣钦 .
中国专利 :CN209673621U ,2019-11-22
[3]
芯片测试治具 [P]. 
谢森华 .
中国专利 :CN207923960U ,2018-09-28
[4]
一种芯片测试治具 [P]. 
刘强兵 ;
吕旭钢 .
中国专利 :CN216485358U ,2022-05-10
[5]
一种芯片测试治具 [P]. 
谢登煌 ;
卢浩 .
中国专利 :CN119511054A ,2025-02-25
[6]
一种芯片测试治具 [P]. 
夏俊杰 ;
林华胜 ;
顾红伟 .
中国专利 :CN223155049U ,2025-07-25
[7]
芯片测试治具 [P]. 
王泰山 ;
刘文斌 ;
李成鹏 ;
蓝清锋 .
中国专利 :CN112415359A ,2021-02-26
[8]
一种芯片测试治具 [P]. 
杜娟 .
中国专利 :CN210604707U ,2020-05-22
[9]
一种芯片测试治具 [P]. 
吴永青 ;
吴鹏杰 ;
戴安泰 ;
张亮亮 .
中国专利 :CN110673020B ,2020-01-10
[10]
一种芯片测试治具 [P]. 
李静 ;
蔡海燕 ;
李琳琳 .
中国专利 :CN217360188U ,2022-09-02