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一种芯片测试治具
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201911064843.7
申请日
:
2019-11-04
公开(公告)号
:
CN110673020B
公开(公告)日
:
2020-01-10
发明(设计)人
:
吴永青
吴鹏杰
戴安泰
张亮亮
申请人
:
申请人地址
:
201203 上海市浦东新区金桥出口加工区龙桂路501号
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
代理机构
:
上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251
代理人
:
董磊
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-01-10
公开
公开
2020-02-11
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20191104
2021-10-22
授权
授权
共 50 条
[1]
一种芯片测试治具
[P].
夏俊杰
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳超盈智能科技有限公司
深圳超盈智能科技有限公司
夏俊杰
;
林华胜
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机构:
深圳超盈智能科技有限公司
深圳超盈智能科技有限公司
林华胜
;
顾红伟
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0
机构:
深圳超盈智能科技有限公司
深圳超盈智能科技有限公司
顾红伟
.
中国专利
:CN223155049U
,2025-07-25
[2]
芯片测试治具
[P].
何煦
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0
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0
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0
何煦
.
中国专利
:CN201434875Y
,2010-03-31
[3]
芯片测试治具
[P].
孙成思
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0
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0
孙成思
;
孙日欣
论文数:
0
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0
孙日欣
;
杨鹏亮
论文数:
0
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0
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0
杨鹏亮
.
中国专利
:CN218298437U
,2023-01-13
[4]
一种芯片测试治具
[P].
李刚
论文数:
0
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0
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0
李刚
.
中国专利
:CN214041653U
,2021-08-24
[5]
芯片测试治具
[P].
刘孜
论文数:
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机构:
深圳市晶存科技股份有限公司
深圳市晶存科技股份有限公司
刘孜
;
谢登煌
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机构:
深圳市晶存科技股份有限公司
深圳市晶存科技股份有限公司
谢登煌
.
中国专利
:CN119780682A
,2025-04-08
[6]
芯片测试治具
[P].
刘孜
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机构:
深圳市晶存科技股份有限公司
深圳市晶存科技股份有限公司
刘孜
;
谢登煌
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机构:
深圳市晶存科技股份有限公司
深圳市晶存科技股份有限公司
谢登煌
.
中国专利
:CN119780682B
,2025-08-05
[7]
芯片测试治具
[P].
李祥争
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机构:
上海思立微电子科技有限公司
上海思立微电子科技有限公司
李祥争
;
刘文涛
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机构:
上海思立微电子科技有限公司
上海思立微电子科技有限公司
刘文涛
.
中国专利
:CN221124787U
,2024-06-11
[8]
一种芯片测试治具及芯片测试方法
[P].
张冠宇
论文数:
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机构:
常州纵慧芯光半导体科技有限公司
常州纵慧芯光半导体科技有限公司
张冠宇
;
蔡豫新
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0
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机构:
常州纵慧芯光半导体科技有限公司
常州纵慧芯光半导体科技有限公司
蔡豫新
;
张林杰
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0
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机构:
常州纵慧芯光半导体科技有限公司
常州纵慧芯光半导体科技有限公司
张林杰
;
谢亚锋
论文数:
0
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0
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机构:
常州纵慧芯光半导体科技有限公司
常州纵慧芯光半导体科技有限公司
谢亚锋
;
郭栓银
论文数:
0
引用数:
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机构:
常州纵慧芯光半导体科技有限公司
常州纵慧芯光半导体科技有限公司
郭栓银
;
李含轩
论文数:
0
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机构:
常州纵慧芯光半导体科技有限公司
常州纵慧芯光半导体科技有限公司
李含轩
;
陈晓迟
论文数:
0
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0
机构:
常州纵慧芯光半导体科技有限公司
常州纵慧芯光半导体科技有限公司
陈晓迟
.
中国专利
:CN120629878A
,2025-09-12
[9]
一种芯片测试治具主板、芯片测试主机
[P].
薛斌
论文数:
0
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机构:
格科微电子(上海)有限公司
格科微电子(上海)有限公司
薛斌
;
周明峰
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机构:
格科微电子(上海)有限公司
格科微电子(上海)有限公司
周明峰
;
张大为
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机构:
格科微电子(上海)有限公司
格科微电子(上海)有限公司
张大为
.
中国专利
:CN119375669A
,2025-01-28
[10]
一种芯片测试治具
[P].
刘强兵
论文数:
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刘强兵
;
吕旭钢
论文数:
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吕旭钢
.
中国专利
:CN216485358U
,2022-05-10
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