一种芯片测试治具

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专利类型
发明
申请号
CN201911064843.7
申请日
2019-11-04
公开(公告)号
CN110673020B
公开(公告)日
2020-01-10
发明(设计)人
吴永青 吴鹏杰 戴安泰 张亮亮
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区金桥出口加工区龙桂路501号
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251
代理人
董磊
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种芯片测试治具 [P]. 
夏俊杰 ;
林华胜 ;
顾红伟 .
中国专利 :CN223155049U ,2025-07-25
[2]
芯片测试治具 [P]. 
何煦 .
中国专利 :CN201434875Y ,2010-03-31
[3]
芯片测试治具 [P]. 
孙成思 ;
孙日欣 ;
杨鹏亮 .
中国专利 :CN218298437U ,2023-01-13
[4]
一种芯片测试治具 [P]. 
李刚 .
中国专利 :CN214041653U ,2021-08-24
[5]
芯片测试治具 [P]. 
刘孜 ;
谢登煌 .
中国专利 :CN119780682A ,2025-04-08
[6]
芯片测试治具 [P]. 
刘孜 ;
谢登煌 .
中国专利 :CN119780682B ,2025-08-05
[7]
芯片测试治具 [P]. 
李祥争 ;
刘文涛 .
中国专利 :CN221124787U ,2024-06-11
[8]
一种芯片测试治具及芯片测试方法 [P]. 
张冠宇 ;
蔡豫新 ;
张林杰 ;
谢亚锋 ;
郭栓银 ;
李含轩 ;
陈晓迟 .
中国专利 :CN120629878A ,2025-09-12
[9]
一种芯片测试治具主板、芯片测试主机 [P]. 
薛斌 ;
周明峰 ;
张大为 .
中国专利 :CN119375669A ,2025-01-28
[10]
一种芯片测试治具 [P]. 
刘强兵 ;
吕旭钢 .
中国专利 :CN216485358U ,2022-05-10