芯片测试治具

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510287887.5

申请日：

2025-03-12

公开(公告)号：

CN119780682B

公开(公告)日：

2025-08-05

发明(设计)人：

刘孜谢登煌

申请人：

深圳市晶存科技股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市福田区福保街道福保社区市花路创凌通科技大厦三层

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

代理机构：

广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205

代理人：

张志辉

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-08-05	授权	授权
2025-04-08	公开	公开
2025-04-25	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20250312

共 50 条

[1]

芯片测试治具 [P].

刘孜 ;

谢登煌 .

中国专利 :CN119780682A ,2025-04-08

[2]

芯片测试治具 [P].

何煦 .

中国专利 :CN201434875Y ,2010-03-31

[3]

芯片测试治具 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

杨鹏亮 .

中国专利 :CN218298437U ,2023-01-13

[4]

芯片测试治具 [P].

李祥争 ;

刘文涛 .

中国专利 :CN221124787U ,2024-06-11

[5]

芯片测试治具 [P].

王泰山 ;

刘文斌 ;

李成鹏 ;

蓝清锋 .

中国专利 :CN112415359A ,2021-02-26

[6]

芯片测试治具 [P].

杨建 ;

刘志维 ;

汪迪 ;

张先俊 .

中国专利 :CN220752138U ,2024-04-09

[7]

芯片测试治具 [P].

孙圣钦 .

中国专利 :CN209673621U ,2019-11-22

[8]

芯片测试治具 [P].

唐甘霖 .

中国专利 :CN213149029U ,2021-05-07

[9]

芯片测试治具 [P].

崔强 ;

许招辉 .

中国专利 :CN214895433U ,2021-11-26

[10]

芯片测试治具 [P].

顾明华 .

中国专利 :CN213578641U ,2021-06-29

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