芯片测试治具

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202011061749.9
申请日
2020-09-30
公开(公告)号
CN112415359A
公开(公告)日
2021-02-26
发明(设计)人
王泰山 刘文斌 李成鹏 蓝清锋
申请人
申请人地址
518052 广东省深圳市南山区西丽镇茶光路1089号深圳集成电路设计应用产业园404
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280
代理人
黎坚怡
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
芯片测试治具 [P]. 
王泰山 ;
刘文斌 ;
李成鹏 ;
蓝清锋 .
中国专利 :CN112415359B ,2025-03-04
[2]
芯片测试治具 [P]. 
杨建 ;
刘志维 ;
汪迪 ;
张先俊 .
中国专利 :CN220752138U ,2024-04-09
[3]
芯片测试治具 [P]. 
孙圣钦 .
中国专利 :CN209673621U ,2019-11-22
[4]
芯片测试治具 [P]. 
唐甘霖 .
中国专利 :CN213149029U ,2021-05-07
[5]
芯片测试治具 [P]. 
崔强 ;
许招辉 .
中国专利 :CN214895433U ,2021-11-26
[6]
芯片测试治具 [P]. 
何煦 .
中国专利 :CN201434875Y ,2010-03-31
[7]
芯片测试治具 [P]. 
顾明华 .
中国专利 :CN213578641U ,2021-06-29
[8]
芯片测试治具 [P]. 
孙成思 ;
孙日欣 ;
杨鹏亮 .
中国专利 :CN218298437U ,2023-01-13
[9]
芯片测试治具 [P]. 
刘凯 ;
郭靖 ;
施元军 ;
高凯 ;
殷岚勇 .
中国专利 :CN204303758U ,2015-04-29
[10]
芯片测试治具 [P]. 
朱曹振 ;
王典 .
中国专利 :CN216485374U ,2022-05-10