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芯片测试治具
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202011061749.9
申请日
:
2020-09-30
公开(公告)号
:
CN112415359A
公开(公告)日
:
2021-02-26
发明(设计)人
:
王泰山
刘文斌
李成鹏
蓝清锋
申请人
:
申请人地址
:
518052 广东省深圳市南山区西丽镇茶光路1089号深圳集成电路设计应用产业园404
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
代理机构
:
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280
代理人
:
黎坚怡
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-03-16
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20200930
2021-02-26
公开
公开
共 50 条
[1]
芯片测试治具
[P].
王泰山
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳瑞波光电子有限公司
深圳瑞波光电子有限公司
王泰山
;
刘文斌
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机构:
深圳瑞波光电子有限公司
深圳瑞波光电子有限公司
刘文斌
;
李成鹏
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机构:
深圳瑞波光电子有限公司
深圳瑞波光电子有限公司
李成鹏
;
蓝清锋
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机构:
深圳瑞波光电子有限公司
深圳瑞波光电子有限公司
蓝清锋
.
中国专利
:CN112415359B
,2025-03-04
[2]
芯片测试治具
[P].
杨建
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机构:
深圳市华芯智能装备有限公司
深圳市华芯智能装备有限公司
杨建
;
刘志维
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机构:
深圳市华芯智能装备有限公司
深圳市华芯智能装备有限公司
刘志维
;
汪迪
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机构:
深圳市华芯智能装备有限公司
深圳市华芯智能装备有限公司
汪迪
;
张先俊
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机构:
深圳市华芯智能装备有限公司
深圳市华芯智能装备有限公司
张先俊
.
中国专利
:CN220752138U
,2024-04-09
[3]
芯片测试治具
[P].
孙圣钦
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孙圣钦
.
中国专利
:CN209673621U
,2019-11-22
[4]
芯片测试治具
[P].
唐甘霖
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唐甘霖
.
中国专利
:CN213149029U
,2021-05-07
[5]
芯片测试治具
[P].
崔强
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崔强
;
许招辉
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许招辉
.
中国专利
:CN214895433U
,2021-11-26
[6]
芯片测试治具
[P].
何煦
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何煦
.
中国专利
:CN201434875Y
,2010-03-31
[7]
芯片测试治具
[P].
顾明华
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顾明华
.
中国专利
:CN213578641U
,2021-06-29
[8]
芯片测试治具
[P].
孙成思
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孙成思
;
孙日欣
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孙日欣
;
杨鹏亮
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杨鹏亮
.
中国专利
:CN218298437U
,2023-01-13
[9]
芯片测试治具
[P].
刘凯
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刘凯
;
郭靖
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郭靖
;
施元军
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施元军
;
高凯
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高凯
;
殷岚勇
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殷岚勇
.
中国专利
:CN204303758U
,2015-04-29
[10]
芯片测试治具
[P].
朱曹振
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朱曹振
;
王典
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王典
.
中国专利
:CN216485374U
,2022-05-10
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