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光学模组及包括其的残影测试装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202022748201.3
申请日
:
2020-11-24
公开(公告)号
:
CN213456058U
公开(公告)日
:
2021-06-15
发明(设计)人
:
张舜
王钊
申请人
:
申请人地址
:
201506 上海市金山区金山工业区九工路1568号
IPC主分类号
:
G01M1102
IPC分类号
:
代理机构
:
上海隆天律师事务所 31282
代理人
:
夏彬
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-06-15
授权
授权
共 50 条
[1]
显示面板的残影测试方法、残影测试装置
[P].
马建东
论文数:
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0
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0
马建东
.
中国专利
:CN111397856B
,2020-07-10
[2]
光学模组的测试装置
[P].
黎亚奎
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黎亚奎
;
邓水冰
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邓水冰
;
高其伟
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高其伟
.
中国专利
:CN211978667U
,2020-11-20
[3]
光学模组测试装置
[P].
胡波
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胡波
;
王建
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王建
;
李玉森
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李玉森
.
中国专利
:CN209513216U
,2019-10-18
[4]
残影测试方法和残影测试装置
[P].
赵东方
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赵东方
;
杜哲
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杜哲
;
郭双
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郭双
;
刘勋
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刘勋
;
郭子栋
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郭子栋
.
中国专利
:CN111341232B
,2020-06-26
[5]
光学测试装置及光学测试方法
[P].
肖冯俊树
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肖冯俊树
.
中国专利
:CN110879135B
,2020-03-13
[6]
背光模组光学测试装置
[P].
李鹏
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李鹏
;
古诗路
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古诗路
;
韩智慧
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韩智慧
.
中国专利
:CN203705748U
,2014-07-09
[7]
光学芯片模组测试装置
[P].
朱小刚
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朱小刚
.
中国专利
:CN212569029U
,2021-02-19
[8]
消除LCM关机残影的测试装置
[P].
丁学文
论文数:
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丁学文
.
中国专利
:CN202385228U
,2012-08-15
[9]
一种测试装置及包括其的测试系统
[P].
吕建奇
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吕建奇
.
中国专利
:CN204214983U
,2015-03-18
[10]
一种光学模组测试治具组件及测试装置
[P].
夏子阳
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夏子阳
;
王建
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王建
;
胡波
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胡波
;
陈正伟
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陈正伟
;
魏闯
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魏闯
.
中国专利
:CN214310722U
,2021-09-28
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