光学模组及包括其的残影测试装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN202022748201.3
申请日
2020-11-24
公开(公告)号
CN213456058U
公开(公告)日
2021-06-15
发明(设计)人
张舜 王钊
申请人
申请人地址
201506 上海市金山区金山工业区九工路1568号
IPC主分类号
G01M1102
IPC分类号
代理机构
上海隆天律师事务所 31282
代理人
夏彬
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
显示面板的残影测试方法、残影测试装置 [P]. 
马建东 .
中国专利 :CN111397856B ,2020-07-10
[2]
光学模组的测试装置 [P]. 
黎亚奎 ;
邓水冰 ;
高其伟 .
中国专利 :CN211978667U ,2020-11-20
[3]
光学模组测试装置 [P]. 
胡波 ;
王建 ;
李玉森 .
中国专利 :CN209513216U ,2019-10-18
[4]
残影测试方法和残影测试装置 [P]. 
赵东方 ;
杜哲 ;
郭双 ;
刘勋 ;
郭子栋 .
中国专利 :CN111341232B ,2020-06-26
[5]
光学测试装置及光学测试方法 [P]. 
肖冯俊树 .
中国专利 :CN110879135B ,2020-03-13
[6]
背光模组光学测试装置 [P]. 
李鹏 ;
古诗路 ;
韩智慧 .
中国专利 :CN203705748U ,2014-07-09
[7]
光学芯片模组测试装置 [P]. 
朱小刚 .
中国专利 :CN212569029U ,2021-02-19
[8]
消除LCM关机残影的测试装置 [P]. 
丁学文 .
中国专利 :CN202385228U ,2012-08-15
[9]
一种测试装置及包括其的测试系统 [P]. 
吕建奇 .
中国专利 :CN204214983U ,2015-03-18
[10]
一种光学模组测试治具组件及测试装置 [P]. 
夏子阳 ;
王建 ;
胡波 ;
陈正伟 ;
魏闯 .
中国专利 :CN214310722U ,2021-09-28