器件参数的测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202080027185.9

申请日：

2020-03-27

公开(公告)号：

CN113678241A

公开(公告)日：

2021-11-19

发明(设计)人：

柳达也

申请人：

申请人地址：

日本京都府

IPC主分类号：

H01L21822

IPC分类号：

H01L2978 H01L2912 G01R3126 H01L2704 H01L218234 H01L2706 H01L27088 H01L2900 H01L21336

代理机构：

北京银龙知识产权代理有限公司 11243

代理人：

龚伟;王玉瑾

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-11-19	公开	公开
2021-12-07	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/822 申请日:20200327

共 50 条

[1]

功率器件参数测量电路和功率器件参数测量方法 [P].

王勇江 ;

侯涛涛 ;

杨明达 ;

崔曼 ;

马群 .

中国专利 :CN112986670A ,2021-06-18

[2]

电声转换器件参数的测量方法及其测量系统 [P].

孙庚辰 .

中国专利 :CN1152851A ,1997-06-25

[3]

元器件敏感参数退化的测量方法 [P].

王群勇 ;

白桦 ;

阳辉 ;

孙旭朋 .

中国专利 :CN105717384A ,2016-06-29

[4]

光延迟器件的延迟参数的测量方法 [P].

张尚剑 ;

何禹彤 ;

李智慧 ;

张雅丽 ;

刘永 .

中国专利 :CN109238658B ,2019-01-18

[5]

散射参数测量方法及器件校准方法 [P].

黄安东 ;

顾滕锋 ;

侯富诚 .

中国专利 :CN110470966A ,2019-11-19

[6]

超导逻辑器件时序参数的测量电路及测量方法 [P].

高小平 ;

任洁 ;

杨树澄 ;

王镇 .

中国专利 :CN114814423A ,2022-07-29

[7]

超导逻辑器件时序参数的测量电路及测量方法 [P].

高小平 ;

任洁 ;

杨树澄 ;

王镇 .

中国专利 :CN114814423B ,2025-05-13

[8]

一种器件参数的测量方法、系统及终端设备 [P].

王一帮 ;

霍晔 ;

栾鹏 ;

吴爱华 ;

梁法国 ;

张立飞 ;

李彦丽 ;

张晓云 .

中国专利 :CN110174633B ,2019-08-27

[9]

土体参数测量方法 [P].

车爱兰 ;

韩悦 ;

冯少孔 .

中国专利 :CN110297071A ,2019-10-01

[10]

材料声学参数的测量方法 [P].

姜戈 .

中国专利 :CN120254052A ,2025-07-04

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