元器件敏感参数退化的测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510236802.7

申请日：

2015-05-11

公开(公告)号：

CN105717384A

公开(公告)日：

2016-06-29

发明(设计)人：

王群勇白桦阳辉孙旭朋

申请人：

申请人地址：

100089 北京市海淀区紫竹院路69号中国兵器大厦708室

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

代理机构：

北京路浩知识产权代理有限公司 11002

代理人：

李相雨;王雪芬

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-07-27	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101671896247 IPC(主分类):G01R 31/00 专利申请号:2015102368027 申请日:20150511
2016-06-29	公开	公开
2019-11-29	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R 31/00 申请公布日:20160629

共 50 条

[1]

电子元器件的特性测量方法 [P].

嶋川淳也 .

中国专利 :CN103620428A ,2014-03-05

[2]

器件参数的测量方法 [P].

柳达也 .

中国专利 :CN113678241A ,2021-11-19

[3]

一种光学元器件厚度的测量方法 [P].

卢平 .

中国专利 :CN107631694B ,2018-01-26

[4]

元器件表面形状测量方法及元器件表面形状测量装置 [P].

刘帅杰 ;

施皆佩 ;

周炜 .

中国专利 :CN120008507A ,2025-05-16

[5]

功率器件参数测量电路和功率器件参数测量方法 [P].

王勇江 ;

侯涛涛 ;

杨明达 ;

崔曼 ;

马群 .

中国专利 :CN112986670A ,2021-06-18

[6]

电子元器件外壳外观缺陷测量装置和测量方法 [P].

刘世杰 ;

倪开灶 ;

周游 ;

徐天柱 ;

潘靖宇 ;

王圣浩 ;

王微微 ;

白云波 .

中国专利 :CN110441310A ,2019-11-12

[7]

构建元器件退化预计模型以及元器件退化预计的方法和设备 [P].

林义刚 ;

彭宇 ;

林瑞仕 ;

舒亮 ;

陈威 ;

章上聪 ;

刘思哲 .

中国专利 :CN121189183A ,2025-12-23

[8]

电力电子元器件损耗测量方法、装置和设备 [P].

黄之笛 ;

彭光强 ;

何竞松 ;

武霁阳 ;

毛炽祖 ;

陈礼昕 ;

国建宝 ;

杨光源 ;

夏谷林 ;

王海军 ;

谢惠藩 ;

李士杰 ;

杨育丰 .

中国专利 :CN115015658B ,2024-08-06

[9]

电力电子元器件损耗测量方法、装置和设备 [P].

黄之笛 ;

彭光强 ;

何竞松 ;

武霁阳 ;

毛炽祖 ;

陈礼昕 ;

国建宝 ;

杨光源 ;

夏谷林 ;

王海军 ;

谢惠藩 ;

李士杰 ;

杨育丰 .

中国专利 :CN115015658A ,2022-09-06

[10]

光延迟器件的延迟参数的测量方法 [P].

张尚剑 ;

何禹彤 ;

李智慧 ;

张雅丽 ;

刘永 .

中国专利 :CN109238658B ,2019-01-18

← 1 2 3 4 5 →