导体RRR值的测试样品杆

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201020127926.4

申请日：

2010-03-10

公开(公告)号：

CN201788234U

公开(公告)日：

2011-04-06

发明(设计)人：

龙风刘方

申请人：

申请人地址：

230031 安徽省合肥市蜀山湖路350号

IPC主分类号：

G01R2702

IPC分类号：

代理机构：

安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112

代理人：

余成俊

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-05-01	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101446723143 IPC(主分类):G01R 27/02 专利号:ZL2010201279264 申请日:20100310 授权公告日:20110406 终止日期:20120310
2011-04-06	授权	授权

共 50 条

[1]

多通道温度梯度法RRR测试样品杆 [P].

刘方 ;

雷雷 ;

刘华军 ;

陈超 .

中国专利 :CN102866298B ,2013-01-09

[2]

超导股线临界电流测试样品杆 [P].

龙风 ;

刘方 .

中国专利 :CN201796076U ,2011-04-13

[3]

一种用于测量导体RRR值的装置 [P].

丁开忠 ;

张华辉 ;

毕延芳 ;

冯汉升 ;

陈永毕 ;

李君君 ;

邹春龙 ;

胡锐 ;

杜双松 ;

李蕾 .

中国专利 :CN209471181U ,2019-10-08

[4]

测试样品室 [P].

刘世忠 .

中国专利 :CN209772146U ,2019-12-13

[5]

测试样品的制备方法及测试样品 [P].

李威 ;

王娅茹 .

中国专利 :CN113466267B ,2021-10-01

[6]

测试样品的制备方法及测试样品 [P].

吴诗嫣 ;

夏卫东 ;

李漪 .

中国专利 :CN113466277B ,2021-10-01

[7]

半导体结构的测试方法以及测试样品 [P].

石泉 ;

吴正利 ;

张云静 ;

李国梁 ;

魏强民 .

中国专利 :CN113782461B ,2024-04-09

[8]

半导体结构的测试方法以及测试样品 [P].

石泉 ;

吴正利 ;

张云静 ;

李国梁 ;

魏强民 .

中国专利 :CN113782461A ,2021-12-10

[9]

测试样品的制备系统 [P].

冯伟鹏 ;

董志君 ;

金宇 ;

崔宏志 .

中国专利 :CN210427165U ,2020-04-28

[10]

一种用于测试样品pH值的检测装置 [P].

斯沿洲 ;

陈娣 ;

俞钰莹 .

中国专利 :CN211652668U ,2020-10-09

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