光点差分式非接触式元件厚度测量的光头及厚度测量装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201920987358.6

申请日：

2019-06-28

公开(公告)号：

CN210220983U

公开(公告)日：

2020-03-31

发明(设计)人：

王善忠曹兆楼

申请人：

申请人地址：

211123 江苏省南京市江宁区湖熟工业集中区波光路18号

IPC主分类号：

G01B1106

IPC分类号：

代理机构：

南京中律知识产权代理事务所(普通合伙) 32341

代理人：

李建芳

法律状态：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-03-31	授权	授权

共 50 条

[1]

光点差分式非接触式元件厚度测量的光头、厚度测量装置及测量方法 [P].

王善忠 ;

曹兆楼 .

中国专利 :CN110274545B ,2024-07-16

[2]

光点差分式非接触式元件厚度测量的光头、厚度测量装置及测量方法 [P].

王善忠 ;

曹兆楼 .

中国专利 :CN110274545A ,2019-09-24

[3]

非接触式厚度测量装置 [P].

谢瑞清 ;

赵世杰 ;

陈贤华 ;

廖德锋 ;

田亮 ;

钟波 ;

周炼 ;

徐曦 ;

袁志刚 ;

邓文辉 ;

金会良 ;

王健 .

中国专利 :CN206531473U ,2017-09-29

[4]

非接触式厚度测量装置 [P].

唐廷铨 ;

萧仁忠 ;

赖焕桀 ;

方景亮 .

中国专利 :CN2677873Y ,2005-02-09

[5]

非接触式厚度测量装置 [P].

邓松 .

中国专利 :CN101750023A ,2010-06-23

[6]

非接触式管壁厚度测量装置和管壁厚度测量 [P].

M·绍尔兰 ;

H-J·佩勒 ;

M·哈弗坎普 .

中国专利 :CN102183227A ,2011-09-14

[7]

非接触式厚度测量装置及方法 [P].

谢瑞清 ;

赵世杰 ;

陈贤华 ;

廖德锋 ;

田亮 ;

钟波 ;

周炼 ;

徐曦 ;

袁志刚 ;

邓文辉 ;

金会良 ;

王健 .

中国专利 :CN106767464A ,2017-05-31

[8]

接触式厚度测量装置 [P].

杨柯香 .

中国专利 :CN114812345A ,2022-07-29

[9]

厚度测量探头及厚度测量装置 [P].

李红涛 ;

俞翔 .

中国专利 :CN207335653U ,2018-05-08

[10]

非接触式晶片厚度测量装置及方法 [P].

陈晓静 ;

魏彦锋 ;

张传杰 ;

徐庆庆 ;

孙瑞赟 .

中国专利 :CN101709952B ,2010-05-19

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