光点差分式非接触式元件厚度测量的光头、厚度测量装置及测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910571149.8

申请日：

2019-06-28

公开(公告)号：

CN110274545A

公开(公告)日：

2019-09-24

发明(设计)人：

王善忠曹兆楼

申请人：

申请人地址：

211123 江苏省南京市江宁区湖熟工业集中区波光路18号

IPC主分类号：

G01B1106

IPC分类号：

代理机构：

南京中律知识产权代理事务所(普通合伙) 32341

代理人：

李建芳

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-09-24	公开	公开
2019-10-22	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/06 申请日:20190628

共 50 条

[1]

光点差分式非接触式元件厚度测量的光头、厚度测量装置及测量方法 [P].

王善忠 ;

曹兆楼 .

中国专利 :CN110274545B ,2024-07-16

[2]

光点差分式非接触式元件厚度测量的光头及厚度测量装置 [P].

王善忠 ;

曹兆楼 .

中国专利 :CN210220983U ,2020-03-31

[3]

厚度测量装置及厚度测量方法 [P].

丰田一贵 ;

泽村义巳 .

日本专利 :CN114325734B ,2025-02-25

[4]

厚度测量装置及厚度测量方法 [P].

D·克雷坦 .

中国专利 :CN104619264A ,2015-05-13

[5]

厚度测量装置及厚度测量方法 [P].

丰田一贵 ;

泽村义巳 .

中国专利 :CN114325734A ,2022-04-12

[6]

厚度测量装置及厚度测量方法 [P].

丰田一贵 ;

泽村义巳 .

中国专利 :CN107037437B ,2017-08-11

[7]

厚度测量装置及测量方法 [P].

郭志鑫 ;

陈华 ;

李未 ;

陈新喜 ;

沈健 ;

王欣 ;

何建军 ;

何超 ;

黄国翃 ;

支霄翔 ;

余林峰 ;

许浒 .

中国专利 :CN103940327A ,2014-07-23

[8]

一种非接触光学元件中心厚度测量装置及测量方法 [P].

刘钰 ;

苗亮 ;

张文龙 ;

马冬梅 ;

金春水 .

中国专利 :CN105571499A ,2016-05-11

[9]

非接触式厚度测量装置 [P].

谢瑞清 ;

赵世杰 ;

陈贤华 ;

廖德锋 ;

田亮 ;

钟波 ;

周炼 ;

徐曦 ;

袁志刚 ;

邓文辉 ;

金会良 ;

王健 .

中国专利 :CN206531473U ,2017-09-29

[10]

非接触式厚度测量装置 [P].

邓松 .

中国专利 :CN101750023A ,2010-06-23

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