半导体晶片的自动检测装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201520555147.7

申请日：

2015-07-29

公开(公告)号：

CN204885094U

公开(公告)日：

2015-12-16

发明(设计)人：

郭金源徐杰伊文君

申请人：

申请人地址：

102208 北京市昌平区回龙观镇龙祥制版集团北院1号

IPC主分类号：

H01L2166

IPC分类号：

H01L21677

代理机构：

上海申蒙商标专利代理有限公司 31214

代理人：

周丰

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-12-16	授权	授权

共 50 条

[1]

半导体晶片的自动检测装置 [P].

郭金源 ;

徐杰 ;

伊文君 .

中国专利 :CN105023859A ,2015-11-04

[2]

半导体晶片的检测装置 [P].

徐杰 ;

郭金源 .

中国专利 :CN204359271U ,2015-05-27

[3]

半导体晶片的检测装置 [P].

徐杰 ;

郭金源 .

中国专利 :CN104567685A ,2015-04-29

[4]

半导体晶片的高速荧光光谱检测装置 [P].

徐杰 ;

郭金源 .

中国专利 :CN204359694U ,2015-05-27

[5]

一种半导体晶片自动检测打码编带分选机 [P].

蔡庆鑫 ;

丘劭晖 ;

李奕年 .

中国专利 :CN211907389U ,2020-11-10

[6]

一种半导体设备自动检测装置 [P].

王迪杏 ;

王宁 ;

王金裕 .

中国专利 :CN217521308U ,2022-09-30

[7]

一种半导体晶片的激光打标装置 [P].

郭金源 ;

伊文君 ;

徐杰 .

中国专利 :CN205271146U ,2016-06-01

[8]

半导体晶片的高速荧光光谱检测装置 [P].

徐杰 ;

郭金源 .

中国专利 :CN104568893A ,2015-04-29

[9]

一种半导体激光器波长及功率参数的自动检测装置 [P].

陈乃奇 ;

黄文辉 ;

陈奔驰 .

中国专利 :CN209014248U ,2019-06-21

[10]

一种半导体晶片质量检测装置 [P].

张敏 .

中国专利 :CN220855081U ,2024-04-26

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