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检测设备和检测方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201710252395.8
申请日
:
2014-12-31
公开(公告)号
:
CN107064361B
公开(公告)日
:
2017-08-18
发明(设计)人
:
张清军
李元景
陈志强
赵自然
刘以农
刘耀红
何会绍
马秋峰
朱伟平
邹湘
常建平
梁松
申请人
:
申请人地址
:
100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
IPC主分类号
:
G01N3002
IPC分类号
:
G01N3072
G01N3018
G01N3016
G01N3006
G01N3008
G01N2762
G01N102
G01N3030
G01N140
H01J4904
代理机构
:
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人
:
胡良均
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2017-09-12
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101747174729 IPC(主分类):G01N 30/02 专利申请号:2017102523958 申请日:20141231
2020-03-27
授权
授权
2017-08-18
公开
公开
共 50 条
[1]
检测设备和检测方法
[P].
张清军
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张清军
;
李元景
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李元景
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陈志强
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陈志强
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赵自然
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赵自然
;
刘以农
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刘以农
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刘耀红
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刘耀红
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何会绍
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何会绍
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马秋峰
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马秋峰
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朱伟平
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朱伟平
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邹湘
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邹湘
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常建平
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常建平
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梁松
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梁松
.
中国专利
:CN104517799B
,2015-04-15
[2]
检测设备和检测方法
[P].
张清军
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张清军
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李元景
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李元景
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陈志强
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陈志强
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赵自然
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赵自然
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刘以农
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刘以农
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刘耀红
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刘耀红
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何会绍
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何会绍
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马秋峰
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马秋峰
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朱伟平
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朱伟平
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邹湘
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邹湘
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常建平
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常建平
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梁松
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梁松
.
中国专利
:CN107093546B
,2017-08-25
[3]
检测设备
[P].
张清军
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张清军
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李元景
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李元景
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陈志强
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陈志强
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赵自然
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刘以农
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刘以农
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刘耀红
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刘耀红
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何会绍
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何会绍
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马秋峰
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马秋峰
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朱伟平
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朱伟平
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邹湘
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邹湘
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常建平
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常建平
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梁松
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梁松
.
中国专利
:CN204424206U
,2015-06-24
[4]
检测芯片、检测设备、检测系统和检测方法
[P].
张湛
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
张湛
.
中国专利
:CN112557684B
,2025-06-13
[5]
检测芯片、检测设备、检测系统和检测方法
[P].
张湛
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张湛
.
中国专利
:CN112557684A
,2021-03-26
[6]
检测设备和检测方法
[P].
滝口清昭
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滝口清昭
.
中国专利
:CN101032398B
,2007-09-12
[7]
检测设备和检测方法
[P].
王谦
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机构:
华为技术有限公司
华为技术有限公司
王谦
;
王志鹏
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华为技术有限公司
华为技术有限公司
王志鹏
;
褚雅妍
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机构:
华为技术有限公司
华为技术有限公司
褚雅妍
.
中国专利
:CN121067712A
,2025-12-05
[8]
检测设备和检测方法
[P].
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机构:
陈鲁
;
李志强
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机构:
深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
李志强
;
王天民
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深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
王天民
;
张嵩
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深圳中科飞测科技股份有限公司
深圳中科飞测科技股份有限公司
张嵩
.
中国专利
:CN114234835B
,2025-03-14
[9]
检测设备和检测方法
[P].
陈建强
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机构:
南京中安半导体设备有限责任公司
南京中安半导体设备有限责任公司
陈建强
;
张国伟
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南京中安半导体设备有限责任公司
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张国伟
;
朱充
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南京中安半导体设备有限责任公司
南京中安半导体设备有限责任公司
朱充
;
张飞扬
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机构:
南京中安半导体设备有限责任公司
南京中安半导体设备有限责任公司
张飞扬
.
中国专利
:CN119985525A
,2025-05-13
[10]
检测方法和检测设备
[P].
坂井美帆
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坂井美帆
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小口淳
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小口淳
.
中国专利
:CN104759096A
,2015-07-08
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