设备测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010702492.4

申请日：

2020-07-20

公开(公告)号：

CN111835902A

公开(公告)日：

2020-10-27

发明(设计)人：

王建军

申请人：

申请人地址：

310052 浙江省杭州市滨江区长河街道网商路599号4幢7层

IPC主分类号：

H04M124

IPC分类号：

代理机构：

北京超成律师事务所 11646

代理人：

刘静

法律状态：

发明专利申请公布后的驳回

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-09-02	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H04M 1/24 申请公布日:20201027
2020-10-27	公开	公开
2020-11-13	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H04M 1/24 申请日:20200720

共 50 条

[1]

测试管理方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王建军 .

中国专利 :CN111813613A ,2020-10-23

[2]

设备测试方法、电子设备及存储介质 [P].

吕燕顺 ;

万勤 ;

吴胜 ;

吕卓伦 .

中国专利 :CN112118149B ,2020-12-22

[3]

测试方法、测试系统、装置、电子设备及存储介质 [P].

孙宏超 ;

任东锋 ;

赵小庆 .

中国专利 :CN120104463A ,2025-06-06

[4]

设备测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王朝翔 .

中国专利 :CN117971581A ,2024-05-03

[5]

设备测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李伟玲 ;

刘金胜 ;

苑京立 ;

李明明 ;

夏永强 ;

覃琴 ;

李伟 ;

张辉 .

中国专利 :CN118741401A ,2024-10-01

[6]

UWB设备测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质 [P].

于永亮 ;

孟博 .

中国专利 :CN113438133B ,2021-09-24

[7]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

何木来 ;

刘素华 ;

彭广毫 .

中国专利 :CN118093444A ,2024-05-28

[8]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

何木来 ;

刘素华 ;

彭广毫 .

中国专利 :CN118093444B ,2024-08-02

[9]

模拟测试系统、方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

欧阳春 ;

王勇 .

中国专利 :CN115541275A ,2022-12-30

[10]

测试方法、电子设备和存储介质 [P].

郭晓宇 ;

郭文潇 ;

徐重阳 .

中国专利 :CN120523742A ,2025-08-22

← 1 2 3 4 5 →