设备测试方法、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010817123.X

申请日：

2020-08-14

公开(公告)号：

CN112118149B

公开(公告)日：

2020-12-22

发明(设计)人：

吕燕顺万勤吴胜吕卓伦

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市光明新区观光路3009号招商局光明科技园A6栋2A

IPC主分类号：

H04L4310

IPC分类号：

H04L430817

代理机构：

广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205

代理人：

黄广龙

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-01-08	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H04L 12/26 申请日:20200814
2022-04-12	授权	授权
2020-12-22	公开	公开

共 50 条

[1]

设备测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王建军 .

中国专利 :CN111835902A ,2020-10-27

[2]

设备测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王朝翔 .

中国专利 :CN117971581A ,2024-05-03

[3]

设备测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李伟玲 ;

刘金胜 ;

苑京立 ;

李明明 ;

夏永强 ;

覃琴 ;

李伟 ;

张辉 .

中国专利 :CN118741401A ,2024-10-01

[4]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

何木来 ;

刘素华 ;

彭广毫 .

中国专利 :CN118093444A ,2024-05-28

[5]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

何木来 ;

刘素华 ;

彭广毫 .

中国专利 :CN118093444B ,2024-08-02

[6]

设备测试方法、电子设备和存储介质 [P].

冯晓芳 .

中国专利 :CN119881514A ,2025-04-25

[7]

测试方法、测试系统、装置、电子设备及存储介质 [P].

孙宏超 ;

任东锋 ;

赵小庆 .

中国专利 :CN120104463A ,2025-06-06

[8]

测试方法、电子设备和存储介质 [P].

郭晓宇 ;

郭文潇 ;

徐重阳 .

中国专利 :CN120523742A ,2025-08-22

[9]

测试方法、电子设备和存储介质 [P].

郭晓宇 ;

郭文潇 ;

徐重阳 .

中国专利 :CN120523742B ,2025-10-10

[10]

设备测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

罗斐 .

中国专利 :CN118779167A ,2024-10-15

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