叠层厚度测量装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201420194603.5

申请日：

2014-04-21

公开(公告)号：

CN203824527U

公开(公告)日：

2014-09-10

发明(设计)人：

窦琴韩欢庆陈文智张淑兰张志英刘囡楠张涛

申请人：

申请人地址：

100081 北京市海淀区学院南路76号

IPC主分类号：

G01B1106

IPC分类号：

代理机构：

北京五洲洋和知识产权代理事务所(普通合伙) 11387

代理人：

刘春成;温泉

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-09-10	授权	授权
2020-05-19	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01B 11/06 变更事项:专利权人变更前:安泰科技股份有限公司变更后:安泰科技股份有限公司变更事项:地址变更前:100081 北京市海淀区学院南路76号变更后:100081 北京市海淀区学院南路76号变更事项:共同专利权人变更前:安泰南瑞非晶科技有限责任公司变更后:安泰非晶科技有限责任公司

共 50 条

[1]

厚度测量装置及叠层设备 [P].

刘沧海 ;

崔明学 ;

刘志军 ;

冯宜瑞 ;

齐建良 .

中国专利 :CN220751126U ,2024-04-09

[2]

膜层厚度测量装置 [P].

焦阳 ;

严翔 ;

闫晓晖 ;

丁丽真 .

中国专利 :CN223122176U ,2025-07-18

[3]

一种电缆绝缘层厚度测量装置 [P].

路士雨 ;

喻文博 .

中国专利 :CN220853405U ,2024-04-26

[4]

一种自动叠片机叠片厚度测量装置 [P].

王忠平 ;

崔有成 .

中国专利 :CN208223446U ,2018-12-11

[5]

厚度测量探头及厚度测量装置 [P].

李红涛 ;

俞翔 .

中国专利 :CN207335653U ,2018-05-08

[6]

柔性材料厚度测量装置 [P].

董振坤 ;

何剑杰 ;

杨杉苗 ;

谢新星 .

中国专利 :CN204854644U ,2015-12-09

[7]

薄壁件厚度测量装置 [P].

陈罗峰 ;

李良 ;

邓青春 .

中国专利 :CN207741672U ,2018-08-17

[8]

厚度测量装置 [P].

王全林 ;

孙剑阳 ;

彭威 ;

畅文欣 .

中国专利 :CN210154555U ,2020-03-17

[9]

厚度测量装置 [P].

夏桂锁 ;

高伟 ;

冯玉川 ;

李峥 .

中国专利 :CN223512665U ,2025-11-04

[10]

厚度测量装置 [P].

何文权 ;

李玉琼 ;

滕靖 .

中国专利 :CN201122093Y ,2008-09-24

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