厚度测量装置及叠层设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202322413567.9

申请日：

2023-09-05

公开(公告)号：

CN220751126U

公开(公告)日：

2024-04-09

发明(设计)人：

刘沧海崔明学刘志军冯宜瑞齐建良

申请人：

信维电子科技（益阳）有限公司

申请人地址：

413000 湖南省益阳市高新区银城大道569号

IPC主分类号：

G01B21/08

IPC分类号：

代理机构：

深圳市六加知识产权代理有限公司 44372

代理人：

江晓苏

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-09	授权	授权

共 50 条

[1]

叠层厚度测量装置 [P].

窦琴 ;

韩欢庆 ;

陈文智 ;

张淑兰 ;

张志英 ;

刘囡楠 ;

张涛 .

中国专利 :CN203824527U ,2014-09-10

[2]

膜层厚度测量方法及膜层厚度测量装置 [P].

刘公才 .

中国专利 :CN108981624A ,2018-12-11

[3]

厚度测量探头及厚度测量装置 [P].

李红涛 ;

俞翔 .

中国专利 :CN207335653U ,2018-05-08

[4]

厚度测量装置及激光切割设备 [P].

侯留杰 ;

唐景龙 ;

冯建国 ;

胡瑞 ;

高云峰 .

中国专利 :CN217344034U ,2022-09-02

[5]

厚度测量装置及电池制造设备 [P].

彭俊明 ;

王耐清 ;

邹美靓 ;

江辉 .

中国专利 :CN216159817U ,2022-04-01

[6]

膜层厚度测量装置 [P].

焦阳 ;

严翔 ;

闫晓晖 ;

丁丽真 .

中国专利 :CN223122176U ,2025-07-18

[7]

布料厚度测量装置及布料厚度测量方法 [P].

长谷川建二 ;

冈田知行 ;

伊藤修久 .

中国专利 :CN102460062B ,2012-05-16

[8]

片材厚度测量装置 [P].

市川茂 .

中国专利 :CN111886475B ,2020-11-03

[9]

厚度测量装置 [P].

王全林 ;

孙剑阳 ;

彭威 ;

畅文欣 .

中国专利 :CN210154555U ,2020-03-17

[10]

厚度测量装置 [P].

夏桂锁 ;

高伟 ;

冯玉川 ;

李峥 .

中国专利 :CN223512665U ,2025-11-04

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