膜层厚度测量方法及膜层厚度测量装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810634417.1

申请日：

2018-06-20

公开(公告)号：

CN108981624A

公开(公告)日：

2018-12-11

发明(设计)人：

刘公才

申请人：

申请人地址：

430074 湖北省武汉市洪山区东湖开发区关东科技工业园华光大道18号7018室

IPC主分类号：

G01B1502

IPC分类号：

G06T700 G06T713 G06T762

代理机构：

上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294

代理人：

董琳;陈丽丽

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-01-04	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 15/02 申请日:20180620
2020-07-24	授权	授权
2018-12-11	公开	公开

共 50 条

[1]

膜层厚度测量装置 [P].

焦阳 ;

严翔 ;

闫晓晖 ;

丁丽真 .

中国专利 :CN223122176U ,2025-07-18

[2]

膜厚度测量方法及膜厚度测量装置 [P].

近藤孝司 ;

冈田奈雄登 ;

荒牧裕胜 ;

岩本胜哉 .

中国专利 :CN109253700B ,2019-01-22

[3]

膜厚度测量装置和膜厚度测量方法 [P].

高柳顺 ;

大竹秀幸 ;

相京秀幸 ;

藤沢泰成 ;

锅岛淳男 .

中国专利 :CN105403178A ,2016-03-16

[4]

一种膜层切割装置及膜层厚度测量系统 [P].

杨驰 .

中国专利 :CN206160986U ,2017-05-10

[5]

厚度测量装置及厚度测量方法 [P].

丰田一贵 ;

泽村义巳 .

日本专利 :CN114325734B ,2025-02-25

[6]

膜厚度测量设备与膜厚度测量方法 [P].

山田惠三 ;

板垣洋辅 ;

牛木健雄 .

中国专利 :CN1230662C ,2003-07-30

[7]

厚度测量装置及厚度测量方法 [P].

D·克雷坦 .

中国专利 :CN104619264A ,2015-05-13

[8]

厚度测量装置及厚度测量方法 [P].

丰田一贵 ;

泽村义巳 .

中国专利 :CN114325734A ,2022-04-12

[9]

厚度测量装置及厚度测量方法 [P].

丰田一贵 ;

泽村义巳 .

中国专利 :CN107037437B ,2017-08-11

[10]

混凝土浮浆层厚度测量装置及测量方法 [P].

赵天奇 ;

徐俊鹏 ;

秦娟 .

中国专利 :CN120274614A ,2025-07-08

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