一种膜层切割装置及膜层厚度测量系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201621181944.4

申请日：

2016-10-27

公开(公告)号：

CN206160986U

公开(公告)日：

2017-05-10

发明(设计)人：

杨驰

申请人：

申请人地址：

310052 浙江省杭州市滨江区秋溢路500号1幢4楼405-407室

IPC主分类号：

G01B2108

IPC分类号：

B26D106 B26D701 B26D726

代理机构：

杭州橙知果专利代理事务所(特殊普通合伙) 33261

代理人：

曾祥兵

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-05-10	授权	授权

共 50 条

[1]

膜层厚度测量装置 [P].

焦阳 ;

严翔 ;

闫晓晖 ;

丁丽真 .

中国专利 :CN223122176U ,2025-07-18

[2]

膜层厚度测量方法及膜层厚度测量装置 [P].

刘公才 .

中国专利 :CN108981624A ,2018-12-11

[3]

一种膜层厚度测量设备 [P].

黄仕江 ;

陈中旭 ;

宋德彬 .

中国专利 :CN221706482U ,2024-09-13

[4]

金属表面液态膜层厚度测量装置 [P].

高继峰 ;

刘德绪 ;

龚金海 ;

王振玉 ;

李文广 .

中国专利 :CN204594386U ,2015-08-26

[5]

叠层厚度测量装置 [P].

窦琴 ;

韩欢庆 ;

陈文智 ;

张淑兰 ;

张志英 ;

刘囡楠 ;

张涛 .

中国专利 :CN203824527U ,2014-09-10

[6]

膜厚度测量方法及膜厚度测量装置 [P].

近藤孝司 ;

冈田奈雄登 ;

荒牧裕胜 ;

岩本胜哉 .

中国专利 :CN109253700B ,2019-01-22

[7]

一种抹灰层厚度测量装置 [P].

唐梓轩 ;

王勇 ;

王聪 ;

刘军 ;

孙玉林 ;

佟若冰 ;

王春琦 ;

王佳旗 .

中国专利 :CN222670918U ,2025-03-25

[8]

一种雪层厚度测量装置 [P].

范世泓 .

中国专利 :CN215676790U ,2022-01-28

[9]

一种膜层厚度的测量装置及方法 [P].

雷海云 .

中国专利 :CN109425301A ,2019-03-05

[10]

一种膜厚测量仪的点位自动调整方法及膜层厚度测量装置 [P].

张林峰 .

中国专利 :CN109751961A ,2019-05-14

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