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一种膜厚测量仪的点位自动调整方法及膜层厚度测量装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201910013510.5
申请日
:
2019-01-07
公开(公告)号
:
CN109751961A
公开(公告)日
:
2019-05-14
发明(设计)人
:
张林峰
申请人
:
申请人地址
:
610200 四川省成都市双流区公兴街道青栏路1778号
IPC主分类号
:
G01B1106
IPC分类号
:
G06T773
代理机构
:
北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205
代理人
:
文小莉;刘芳
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-06-07
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/06 申请日:20190107
2022-02-25
发明专利申请公布后的驳回
发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01B 11/06 申请公布日:20190514
2019-05-14
公开
公开
共 50 条
[1]
一种膜厚测量仪
[P].
陈兵
论文数:
0
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0
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0
机构:
江苏大摩半导体科技有限公司
江苏大摩半导体科技有限公司
陈兵
;
曹云峰
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机构:
江苏大摩半导体科技有限公司
江苏大摩半导体科技有限公司
曹云峰
.
中国专利
:CN222336308U
,2025-01-10
[2]
膜厚测量仪(全自动)
[P].
李扬
论文数:
0
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0
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0
李扬
.
中国专利
:CN305866951S
,2020-06-23
[3]
底厚测量装置及厚度测量仪
[P].
水皓
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水皓
;
牟俊杰
论文数:
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牟俊杰
;
刘书蓬
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刘书蓬
.
中国专利
:CN207050627U
,2018-02-27
[4]
一种膜厚测量仪
[P].
黄国香
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机构:
广州景颐光电科技有限公司
广州景颐光电科技有限公司
黄国香
;
蔡晓东
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机构:
广州景颐光电科技有限公司
广州景颐光电科技有限公司
蔡晓东
.
中国专利
:CN222881947U
,2025-05-16
[5]
一种膜厚测量仪及测量方法
[P].
蔡晓东
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机构:
广州景颐光电科技有限公司
广州景颐光电科技有限公司
蔡晓东
;
黄国香
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机构:
广州景颐光电科技有限公司
广州景颐光电科技有限公司
黄国香
.
中国专利
:CN118999373A
,2024-11-22
[6]
膜厚测量仪用的快换组件及膜厚测量装置
[P].
董嵘
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机构:
安目赛思(南通)科技有限公司
安目赛思(南通)科技有限公司
董嵘
;
王喆
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机构:
安目赛思(南通)科技有限公司
安目赛思(南通)科技有限公司
王喆
;
赵国庆
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机构:
安目赛思(南通)科技有限公司
安目赛思(南通)科技有限公司
赵国庆
;
郑伟
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机构:
安目赛思(南通)科技有限公司
安目赛思(南通)科技有限公司
郑伟
;
张扬
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机构:
安目赛思(南通)科技有限公司
安目赛思(南通)科技有限公司
张扬
.
中国专利
:CN221922733U
,2024-10-29
[7]
膜层厚度测量方法及膜层厚度测量装置
[P].
刘公才
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0
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0
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0
刘公才
.
中国专利
:CN108981624A
,2018-12-11
[8]
一种光学膜层厚度测量仪
[P].
薛照明
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薛照明
;
李围红
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李围红
;
李成千
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李成千
;
薛海
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薛海
.
中国专利
:CN209945264U
,2020-01-14
[9]
一种光电膜厚测量仪
[P].
程菊
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程菊
;
马春林
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马春林
;
沈伟丽
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沈伟丽
.
中国专利
:CN114166135A
,2022-03-11
[10]
膜厚测量仪自动进料出料装置
[P].
陈春明
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机构:
桂林雷光科技有限公司
桂林雷光科技有限公司
陈春明
;
廖秋林
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机构:
桂林雷光科技有限公司
桂林雷光科技有限公司
廖秋林
;
文帆
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机构:
桂林雷光科技有限公司
桂林雷光科技有限公司
文帆
;
许明群
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机构:
桂林雷光科技有限公司
桂林雷光科技有限公司
许明群
.
中国专利
:CN120328160A
,2025-07-18
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