一种膜厚测量仪的点位自动调整方法及膜层厚度测量装置

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专利类型
发明
申请号
CN201910013510.5
申请日
2019-01-07
公开(公告)号
CN109751961A
公开(公告)日
2019-05-14
发明(设计)人
张林峰
申请人
申请人地址
610200 四川省成都市双流区公兴街道青栏路1778号
IPC主分类号
G01B1106
IPC分类号
G06T773
代理机构
北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205
代理人
文小莉;刘芳
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种膜厚测量仪 [P]. 
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曹云峰 .
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[3]
底厚测量装置及厚度测量仪 [P]. 
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[4]
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[5]
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王喆 ;
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廖秋林 ;
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