一种SMD元器件测试机构

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201220418507.5

申请日：

2012-08-22

公开(公告)号：

CN202748422U

公开(公告)日：

2013-02-20

发明(设计)人：

冯白华贾延蝶王振波黄宏涛

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市宝安区西乡街道固戍社区东财工业区6号大院3号厂房E栋7楼

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

代理机构：

深圳市国科知识产权代理事务所(普通合伙) 44296

代理人：

陈永辉

法律状态：

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-07-29	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101718651889 IPC(主分类):G01R 31/00 专利号:ZL2012204185075 变更事项:专利权人变更前:深圳市三一联光自动化设备有限公司变更后:深圳市三一联光智能设备股份有限公司变更事项:地址变更前:518000 广东省深圳市宝安区西乡街道固戍社区东财工业区6号大院3号厂房E栋7楼变更后:518000 广东省深圳市宝安区宝安大道与海城路交汇处劳动综合楼(德信商务中心)一至七楼(F7-22)
2013-02-20	授权	授权
2021-07-30	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/00 申请日:20120822 授权公告日:20130220 终止日期:20200822

共 50 条

[1]

一种SMD元器件测试机构 [P].

肖楚平 .

中国专利 :CN213779664U ,2021-07-23

[2]

片式半导体元器件测试机构 [P].

罗炳坤 ;

杨国宏 ;

袁毅凯 ;

单忠频 ;

覃谭飞 .

中国专利 :CN201319051Y ,2009-09-30

[3]

一种自动化电子元器件测试机构 [P].

陈能强 ;

邓凌思 .

中国专利 :CN207180634U ,2018-04-03

[4]

一种电子元器件的绝缘强度测试机构 [P].

赵一峰 ;

冯鑫 .

中国专利 :CN207908615U ,2018-09-25

[5]

一种元器件功能测试机 [P].

张帅 ;

张勇 ;

刘冬冬 ;

张侠丽 ;

张凯瑞 ;

张凯琪 .

中国专利 :CN222825613U ,2025-05-02

[6]

SMD器件自动搬运定位测试机构 [P].

钟丹秋 ;

徐华军 ;

陈晓争 ;

谢金才 ;

周文俊 ;

孙迎春 .

中国专利 :CN201569434U ,2010-09-01

[7]

SMD器件自动搬运定位测试机构 [P].

钟丹秋 ;

徐华军 ;

陈晓争 ;

谢金才 ;

周文俊 ;

孙迎春 .

中国专利 :CN101782384A ,2010-07-21

[8]

一种半导体元器件切脚、测试机构 [P].

顾在意 ;

张善杰 .

中国专利 :CN207705156U ,2018-08-07

[9]

一种电子元器件的绝缘强度测试机构 [P].

夏徐林 ;

凌信 .

中国专利 :CN214174546U ,2021-09-10

[10]

一种自动化电子元器件测试机构 [P].

陈能强 ;

邓凌思 .

中国专利 :CN107966122A ,2018-04-27

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