一种SMD元器件测试机构

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202023103909.X

申请日：

2020-12-21

公开(公告)号：

CN213779664U

公开(公告)日：

2021-07-23

发明(设计)人：

肖楚平

申请人：

申请人地址：

621000 四川省绵阳市安州区工业园

IPC主分类号：

G01N128

IPC分类号：

B23K3112

代理机构：

代理人：

法律状态：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-07-23	授权	授权

共 50 条

[1]

一种SMD元器件测试机构 [P].

冯白华 ;

贾延蝶 ;

王振波 ;

黄宏涛 .

中国专利 :CN202748422U ,2013-02-20

[2]

一种元器件功能测试机 [P].

张帅 ;

张勇 ;

刘冬冬 ;

张侠丽 ;

张凯瑞 ;

张凯琪 .

中国专利 :CN222825613U ,2025-05-02

[3]

片式半导体元器件测试机构 [P].

罗炳坤 ;

杨国宏 ;

袁毅凯 ;

单忠频 ;

覃谭飞 .

中国专利 :CN201319051Y ,2009-09-30

[4]

一种元器件性能测试台 [P].

赖沛浈 ;

邓海荣 ;

吴昭辉 .

中国专利 :CN220340268U ,2024-01-12

[5]

一种自动化电子元器件测试机构 [P].

陈能强 ;

邓凌思 .

中国专利 :CN207180634U ,2018-04-03

[6]

一种半导体元器件切脚、测试机构 [P].

顾在意 ;

张善杰 .

中国专利 :CN207705156U ,2018-08-07

[7]

一种电子元器件的绝缘强度测试机构 [P].

夏徐林 ;

凌信 .

中国专利 :CN214174546U ,2021-09-10

[8]

一种电子元器件的绝缘强度测试机构 [P].

赵一峰 ;

冯鑫 .

中国专利 :CN207908615U ,2018-09-25

[9]

一种封装元器件的测试装置 [P].

陆剑峰 .

中国专利 :CN222734084U ,2025-04-08

[10]

一种SMD晶体测试机构 [P].

刘贵枝 ;

陈桂东 ;

杨越发 .

中国专利 :CN209102850U ,2019-07-12

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