一种封装元器件的测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421144184.4

申请日：

2024-05-23

公开(公告)号：

CN222734084U

公开(公告)日：

2025-04-08

发明(设计)人：

陆剑峰

申请人：

上海桉哲科技有限公司

申请人地址：

201700 上海市青浦区盈顺路715号3幢1层A区1046室

IPC主分类号：

G01N21/88

IPC分类号：

代理机构：

上海思牛达专利代理事务所(特殊普通合伙) 31355

代理人：

丁剑

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-08	授权	授权

共 50 条

[1]

一种电子元器件的封装测试装置 [P].

林翠香 .

中国专利 :CN214675968U ,2021-11-09

[2]

一种DIP封装元器件测试装置 [P].

曹洪波 .

中国专利 :CN204374328U ,2015-06-03

[3]

一种DIP封装元器件测试装置 [P].

刘万东 .

中国专利 :CN217359998U ,2022-09-02

[4]

一种半导体元器件测试装置 [P].

张芳佳 .

中国专利 :CN209707643U ,2019-11-29

[5]

一种元器件测试装置中的探针组、元器件测试装置 [P].

吉明阳 ;

陈建业 .

中国专利 :CN204214905U ,2015-03-18

[6]

一种用于元器件测试的高频测试装置 [P].

王洪洋 ;

洪世勋 .

中国专利 :CN214097577U ,2021-08-31

[7]

一种元器件测试装置 [P].

杨校华 ;

刘兵 ;

李旭东 .

中国专利 :CN207866918U ,2018-09-14

[8]

一种元器件测试装置 [P].

袁世文 ;

徐金成 ;

拉巴顿珠 ;

徐红金 ;

杨琪 ;

袁卫 ;

王飞 ;

彭海洋 ;

张明 ;

余凡 ;

刘正明 ;

色珍 ;

白玛次仁 ;

耿杰 ;

立若旺姆 ;

刘婷婷 ;

张鑫 .

中国专利 :CN217111997U ,2022-08-02

[9]

一种电子元器件测试装置 [P].

张勇 ;

夏欢 ;

王耀辉 .

中国专利 :CN207263797U ,2018-04-20

[10]

一种电子元器件测试装置 [P].

马睿 ;

代云启 ;

张志刚 .

中国专利 :CN206074755U ,2017-04-05

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