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一种半导体元器件测试装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201920268390.9
申请日：
2019-03-04
公开(公告)号：
CN209707643U
公开(公告)日：
2019-11-29
发明(设计)人：
张芳佳
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市龙华新区观澜新城社区粤鹏工业区20号4楼
IPC主分类号：
G01R3126
IPC分类号：
G01R104
代理机构：
深圳众邦专利代理有限公司 44545
代理人：
郭晓宇
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2019-11-29 | 授权 | 授权 |