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一种电子元器件的封装测试装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202023206272.7
申请日
:
2020-12-25
公开(公告)号
:
CN214675968U
公开(公告)日
:
2021-11-09
发明(设计)人
:
林翠香
申请人
:
申请人地址
:
224400 江苏省盐城市阜宁高新技术产业开发区向阳路6号(F)
IPC主分类号
:
H05K502
IPC分类号
:
H05K714
H05K506
代理机构
:
盐城冠佳专利代理事务所(特殊普通合伙) 32450
代理人
:
徐旭栋
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-11-09
授权
授权
共 50 条
[1]
一种电子元器件测试装置
[P].
张勇
论文数:
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张勇
;
夏欢
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夏欢
;
王耀辉
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王耀辉
.
中国专利
:CN207263797U
,2018-04-20
[2]
一种电子元器件测试装置
[P].
马睿
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马睿
;
代云启
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代云启
;
张志刚
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张志刚
.
中国专利
:CN206074755U
,2017-04-05
[3]
一种电子元器件测试装置
[P].
邹智鹏
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邹智鹏
.
中国专利
:CN212845687U
,2021-03-30
[4]
一种电子元器件测试装置
[P].
史金屏
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机构:
深圳市赛华检测技术有限公司
深圳市赛华检测技术有限公司
史金屏
.
中国专利
:CN221426803U
,2024-07-26
[5]
一种电子元器件测试装置
[P].
潘帮哲
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潘帮哲
;
刘静
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刘静
;
谭吉涛
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谭吉涛
;
谭丽娟
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谭丽娟
.
中国专利
:CN217901908U
,2022-11-25
[6]
一种电子元器件测试装置
[P].
许晓伟
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许晓伟
.
中国专利
:CN217156696U
,2022-08-09
[7]
一种封装元器件的测试装置
[P].
陆剑峰
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机构:
上海桉哲科技有限公司
上海桉哲科技有限公司
陆剑峰
.
中国专利
:CN222734084U
,2025-04-08
[8]
一种电子元器件老练测试装置
[P].
杨丰
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杨丰
.
中国专利
:CN216718565U
,2022-06-10
[9]
一种电子元器件尺寸测试装置
[P].
陈伟
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陈伟
;
徐勇
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徐勇
;
叶建国
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叶建国
;
韩宙
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韩宙
.
中国专利
:CN214132835U
,2021-09-07
[10]
一种电子元器件移动测试装置
[P].
尚忠贵
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尚忠贵
;
朱芸
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朱芸
;
李长
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李长
.
中国专利
:CN214953862U
,2021-11-30
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