一种电子元器件的封装测试装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN202023206272.7
申请日
2020-12-25
公开(公告)号
CN214675968U
公开(公告)日
2021-11-09
发明(设计)人
林翠香
申请人
申请人地址
224400 江苏省盐城市阜宁高新技术产业开发区向阳路6号(F)
IPC主分类号
H05K502
IPC分类号
H05K714 H05K506
代理机构
盐城冠佳专利代理事务所(特殊普通合伙) 32450
代理人
徐旭栋
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种电子元器件测试装置 [P]. 
张勇 ;
夏欢 ;
王耀辉 .
中国专利 :CN207263797U ,2018-04-20
[2]
一种电子元器件测试装置 [P]. 
马睿 ;
代云启 ;
张志刚 .
中国专利 :CN206074755U ,2017-04-05
[3]
一种电子元器件测试装置 [P]. 
邹智鹏 .
中国专利 :CN212845687U ,2021-03-30
[4]
一种电子元器件测试装置 [P]. 
史金屏 .
中国专利 :CN221426803U ,2024-07-26
[5]
一种电子元器件测试装置 [P]. 
潘帮哲 ;
刘静 ;
谭吉涛 ;
谭丽娟 .
中国专利 :CN217901908U ,2022-11-25
[6]
一种电子元器件测试装置 [P]. 
许晓伟 .
中国专利 :CN217156696U ,2022-08-09
[7]
一种封装元器件的测试装置 [P]. 
陆剑峰 .
中国专利 :CN222734084U ,2025-04-08
[8]
一种电子元器件老练测试装置 [P]. 
杨丰 .
中国专利 :CN216718565U ,2022-06-10
[9]
一种电子元器件尺寸测试装置 [P]. 
陈伟 ;
徐勇 ;
叶建国 ;
韩宙 .
中国专利 :CN214132835U ,2021-09-07
[10]
一种电子元器件移动测试装置 [P]. 
尚忠贵 ;
朱芸 ;
李长 .
中国专利 :CN214953862U ,2021-11-30