一种量产测试仪及量产老化测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201210010861.9

申请日：

2012-01-13

公开(公告)号：

CN102539984A

公开(公告)日：

2012-07-04

发明(设计)人：

何宏李志雄尹慧

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区科发路8号金融服务技术创新基地1栋8楼A、B、C、D、E、F1

IPC主分类号：

G01R3101

IPC分类号：

代理机构：

深圳中一专利商标事务所 44237

代理人：

张全文

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-07-04	公开	公开
2012-09-05	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101322518233 IPC(主分类):G01R 31/01 专利申请号:2012100108619 申请日:20120113
2014-12-10	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101708223747 IPC(主分类):G01R 31/01 专利申请号:2012100108619 申请公布日:20120704

共 50 条

[1]

功率器件量产老化测试用老化测试设备 [P].

孙浩强 ;

孙元鹏 ;

吕岩 ;

张文亮 ;

佘超群 .

中国专利 :CN218122160U ,2022-12-23

[2]

一种芯片量产测试夹具及芯片量产测试组件 [P].

冯恒超 ;

杨小明 .

中国专利 :CN121068963A ,2025-12-05

[3]

芯片量产测试系统 [P].

孙浩涛 ;

田军 ;

贾红 ;

程显志 ;

陈维新 ;

韦嶔 .

中国专利 :CN107831428B ,2018-03-23

[4]

量产测试流程的执行方法、装置、量产测试系统及介质 [P].

余乐 ;

林令森 ;

宋孝雨 ;

刘印 .

中国专利 :CN118822163A ,2024-10-22

[5]

一种USB从机设备量产测试仪 [P].

龚成 ;

郑灼荣 .

中国专利 :CN203165474U ,2013-08-28

[6]

一种芯片量产测试系统 [P].

蒋松鹰 ;

姚炜 ;

顾彬 ;

杜黎明 .

中国专利 :CN208350951U ,2019-01-08

[7]

一种老化测试夹具及老化测试系统 [P].

吴从 .

中国专利 :CN120314753A ,2025-07-15

[8]

一种老化测试夹具及老化测试系统 [P].

吴从 .

中国专利 :CN120314753B ,2025-11-14

[9]

一种芯片量产测试方法 [P].

刘一杰 ;

李建军 ;

莫军 .

中国专利 :CN111366842B ,2020-07-03

[10]

一种电池老化测试仪及电池老化测试方法 [P].

林怀 ;

黄少斌 ;

陈先樑 ;

陈雄文 .

中国专利 :CN104614682B ,2015-05-13

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