一种芯片量产测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201821200618.2

申请日：

2018-07-26

公开(公告)号：

CN208350951U

公开(公告)日：

2019-01-08

发明(设计)人：

蒋松鹰姚炜顾彬杜黎明

申请人：

申请人地址：

200233 上海市徐汇区桂平路680号33幢303-39室

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

王宝筠

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-01-08	授权	授权

共 50 条

[1]

一种芯片量产测试系统和方法 [P].

蒋松鹰 ;

姚炜 ;

顾彬 ;

杜黎明 .

中国专利 :CN108732487A ,2018-11-02

[2]

芯片量产测试系统 [P].

孙浩涛 ;

田军 ;

贾红 ;

程显志 ;

陈维新 ;

韦嶔 .

中国专利 :CN107831428B ,2018-03-23

[3]

一种芯片量产测试方法 [P].

刘一杰 ;

李建军 ;

莫军 .

中国专利 :CN111366842B ,2020-07-03

[4]

一种芯片量产测试用测试座 [P].

吴凌虹 .

中国专利 :CN220277654U ,2024-01-02

[5]

一种量产雷达在线测试系统 [P].

李铮 ;

王征 ;

钱永俊 ;

杨胜利 ;

童超 ;

罗畅安 .

中国专利 :CN209028203U ,2019-06-25

[6]

一种芯片的测试系统 [P].

潘雷 ;

夏群兵 ;

朱道林 .

中国专利 :CN207164208U ,2018-03-30

[7]

一种量产测试仪及量产老化测试系统 [P].

何宏 ;

李志雄 ;

尹慧 .

中国专利 :CN102539984A ,2012-07-04

[8]

一种模数转换芯片量产测试电路 [P].

杨栋 ;

严凌志 ;

涂柏生 .

中国专利 :CN205123711U ,2016-03-30

[9]

射频芯片量产校准测试系统及方法 [P].

李国旦 .

中国专利 :CN119667433A ,2025-03-21

[10]

芯片测试机及芯片测试系统 [P].

王晓斌 ;

马彦斌 ;

李鑫 ;

王亮 ;

朱旋虎 .

中国专利 :CN220603633U ,2024-03-15

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