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一种芯片量产测试系统和方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201810835007.3
申请日：
2018-07-26
公开(公告)号：
CN108732487A
公开(公告)日：
2018-11-02
发明(设计)人：
蒋松鹰
姚炜
顾彬
杜黎明
申请人：
申请人地址：
200233 上海市徐汇区桂平路680号33幢303-39室
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人：
王宝筠
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2018-11-02 | 公开 | 公开 |
| 2018-11-27 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20180726 |