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一种芯片测试系统和方法

被引：0
申请号：
CN202111679126.2
申请日：
2021-12-31
公开(公告)号：
CN114325355A
公开(公告)日：
2022-04-12
发明(设计)人：
柯小青 季翔宇 任殿升 关皓伟 周大锋
申请人：
申请人地址：
230601 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园B3栋
IPC主分类号：
G01R31317
IPC分类号：
代理机构：
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人：
柳虹
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-04-12 公开 公开
2022-04-29 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/317 申请日:20211231
共 50 条
[1]
一种芯片测试系统和方法 [P]. 
柯小青 ;
季翔宇 ;
任殿升 ;
关皓伟 ;
周大锋 .
中国专利 :CN114325355B ,2024-08-27
[2]
芯片测试系统和芯片测试方法 [P]. 
黄鑫 ;
游明琦 .
中国专利 :CN1928576A ,2007-03-14
[3]
一种芯片测试系统和方法 [P]. 
龚鹏伟 ;
谢停停 ;
葛军 ;
赵珞 ;
刘爽 ;
谢文 ;
杨春涛 .
中国专利 :CN118534298A ,2024-08-23
[4]
一种芯片测试系统和芯片测试方法 [P]. 
连光 ;
梁小江 ;
苏攀 ;
蒲莉娟 ;
黄祯福 .
中国专利 :CN112684326B ,2021-04-20
[5]
半导体芯片测试系统和方法 [P]. 
牟赟 .
中国专利 :CN109827970B ,2019-05-31
[6]
一种芯片系统级测试系统和方法 [P]. 
刘梅英 .
中国专利 :CN113325297A ,2021-08-31
[7]
一种芯片功能测试系统和方法 [P]. 
吴忠秉 ;
王小龙 ;
姚尧 ;
虞亚君 ;
邵春伟 .
中国专利 :CN114325323A ,2022-04-12
[8]
一种芯片量产测试系统和方法 [P]. 
蒋松鹰 ;
姚炜 ;
顾彬 ;
杜黎明 .
中国专利 :CN108732487A ,2018-11-02
[9]
一种芯片测试系统及芯片测试方法 [P]. 
罗熊 ;
叶志辉 ;
向建军 .
中国专利 :CN120629890A ,2025-09-12
[10]
芯片测试控制方法、芯片测试系统和设备 [P]. 
吴承泽 ;
李钦源 ;
张亚鑫 ;
杨文军 .
中国专利 :CN119335358A ,2025-01-21
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